PIXE方法在地质样品测定中实验流程的开发和评价.pdfVIP

第 23卷第9期 中国有色金属学报 2013年 9月 、，01．23No．9 TheChineseJournalofNonferrousM etals Sep．2013 文章编号：1004—0609(2013)09—2693—11 PIXE方法在地质样品测定中实验流程的开发和评价 张建东 ， ，邵拥军 一，石 山大三 (1．中南大学 地球科学与信息物理学院，长沙 410083； 2．中南大学 有色金属成矿预测教育部重点实验室，长沙 410083； 3．秋田大学 工学资源学研究院，环境资源研究中心，日本 秋田010．8502) 摘 要：利用质子荧光分析(PIXE)方法在聚碳酸酯薄膜上测定了日本地质调查局标准岩石和矿石样品的化学组 分，样品为细粒、微量的(1~2mg)粉末地质样品。PIXE测试的结果表明：对标准岩石样品而言，具有0．4 m孔 径薄膜的测定值与其他孔径薄膜(0．2，0．6和 0．8 m)的测定值相比，其相对岩石标样的参考值变化更小，更适合 作为理想样靶被采用；对标准矿石样品而言，0．2 m孔径薄膜的测定值与矿石标样的参考值相比，更适合作为理 想的样靶。日本地质调查局标准岩石和矿石样品测定的化学组分总是稍微不同于标准样品的参考值，因此计算了 测定值和参考值之间的校正因子，通过校正因子的调整，针对量少的岩石和矿石粉末样品，就可以获得较为精确 的测试结果。 关键词：质子荧光分析(PIXE)；过滤薄膜；孔径；校正因子 中图分类号：P632 文献标志码：A Developmentandevaluationofexperimentalprocessof PIXE methodforgeologicalsamples ZHANGJian—dong， ，SHAOYongjun一，ISHIYAMDaizo (1．SchoolofGeosciencesandInfo—Physics，CentralSouthUniversity，Changsha410083，China； 2．KeyLaboratoryofM etallogenicPredictionofNonferrousMetals，MinistryofEducation， CenrtalSouthUniversiyt，Changsha410083，China； 3．CenterforGeo—EnvironmentalScience，GraduateSchoolofEngineeringandResourceScience， AkitaUniversiyt，1-1Gakuen-Machi，Tegata，Akita010—8502，Japan) Abstract：Chemicalnaalysesoffine—grainedpowdersamplesfromtheGeologicalSurveyofJapan(GSJ)rtappedona polycarbonatefilterwerecardedoutbyparticleinducedX—rayemission(PIXE)tomeasurethechemicalcompositionsof geologicalsampleshavingsmallamountsf1—2mg)．Thevariabiliytofresultsobtainedbyusingafilterwithaporesize of0．4 m wassmallerthanthevariabiliytofresultsobtainedbyusingfilterswithporesizeso