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236 7．通信、导航与测控技术 7．7嵌入式存储器的内建自测试原理与实现 王艳张晓林 北京航空航天大擘电子信息_T-程学院北京100083 摘要：随着片上系统芯片(SoC)中嵌入越来越多的存储器设计，存储器在片上系统所占的芯片面积比例越 来越太．快速而高效的存储器测试方法变得越来越重要。吏中分析介绍了嵌八式存储器的内建自测试原理． 并仿真实现了存储嚣内建自测试的一种典型设计结构． 关键词：嵌入式存储器核内建自测试b(aroh算法 一、引言 目前存储器电路被广泛集成在超大规模集成电路芯片内部。根据ITRS预测，到2016年，嵌入式存储器 的面积将占到复杂SoC芯片总面积的95％以上o。对嵌入式存储器进行快速而有效的胡4试非常必要。 嵌入式存储器测试有三种方法：(1)利用嵌入式微处理器来测试存储器。测试向量就是一些微处理器的代 码，这些代码可以放在测试存储器中，但设计中必须有嵌入式微处理器；(2)存储器直接存取法。将嵌入式存 储器的所有输入输出端口直接连接到外部封装引脚，通过外部引脚直接存取到嵌入式存储器的存储单元，但 需要大量的封装引脚，布线也比较困难i(3)存储器