上式提供了一种设计FIR DF的方法。就是直接从频域.ppt

* 上式提供了一种设计FIR DF的方法。就是直接从频域 由此H(k)求出对应的H(z) 。 一个有限长序列可以用N个频率采样值唯一确定。 出发，对理想频响Hd(e j?)采样，其采样H(k) =Hd(k) 式中 是单位圆上的取样值。 §9.3 频率取样法设计线性相位FIR DF 1、基本原理 此系统的频响为 由上式可知在取样点上 式中 有关。 是内插函数 频率取样法设计的目的是使 H(e j?)逼近Hd(e j?) ，逼近 程度与取样的疏密（N的多少），以及Hd(e j?)的形状 1 0 (1)确定N 过渡带确定N。 2、设计方法 带。所以由所要求的 通带最后的取样点与阻带第一个取样点之间形成过渡 所以 即 N是Hd(z)在单位圆上的等间隔取样数。如图9-251所示 |Hd(e j?) | ? ??= 2?/N N =2? / ?? ?? ? ? 可归纳为 (2)如果设计的是线性相位滤波器， H(k)要满足线性相位 滤波器的四种类型的幅度、相位条件。 。 (2) 确定 要求模频特性逼近理想特性，理想特性为 由图9-26模频特性可知 例9-5 用频率取样法设计一个线性相位 FIR 低通DF。 解 (1) 确定 频率取样间隔 1 0 1 0 1 2 3 由线性相位FIR DF的幅度特性，Ⅲ、Ⅳ型不适合作低 通，又因为N为偶数，所以是Ⅱ型。 Ⅱ型幅度特性有 相位特性 所以 0 1 2 3 4 1 1 0 2 3 4 (3)单位脉冲响应h(n) 3 0 1 2 -0.104 0.604 系统的脉冲响应如图927a所示。 可见h(n) =h(N?1?n)，只用计算h(0) 、h(1) 0.604 -0.104 系统的横截型结构如图9-27b所示。 (4)系统函数H(z) (5) 频响 代入可得到 验证：将 其余部分由这两个三角函数延伸叠加形成。 法设计的系统函数，也可用于窗函数法设计的系统函数， 即可用于任何FIR系统。而现在所讨论的频率取样设法， 是应用§6.4的频率采样理论设计得到FIR系统的系统函 数。而由此得到的系统函数，既可以用§7. 4讨论的频 率取样结构实现，也可以用横截型结构实现。 通过此例进一步指出本节讨论的频率取样设计法和§7. 4 讨论的频率取样结构的联系与区别。二者的理论根据都是 §6.4的频率采样理论。 不过，在§7. 4中是用此理论建 立一种实现FIR系统的结构，这种结构既可用于频率取样 0 频率取样结构的取样点上频响与理想特性相同，其余由 各采样的内插函数延伸叠加。所以当采样点之间理想特 性越平缓，则内插值就越接近理想特性，逼近程度就越 好。例如：梯形频响 0 相反，采样点附近的理想特性变化越剧烈，内插值与理 的多。这时，最小阻带衰减与矩形窗差不多，只有， 20dB左右一般 不满足设计要求。 我们用最优化方法 改善设计指标。 想值的误差就越大。因为在理想特性的每一个不连续点 附近，都会出现肩峰与起伏。例如，理想特性是一矩形， 它在频率取样间断点之间出现的肩峰与起伏就比梯形大 变，引起频响发生较大的起伏振荡，使阻带最小衰减指 标不高。可以用类似窗函数的方法以加宽过渡带为代 方法之一N保持不变，过渡带??加倍，即在理想 价换取阻带衰减指标的增加。 特性不连续的边缘加过渡点。如图9-29所示加一个 Hc1 ? 0、1的过渡点， Hc1可以通过最优化的方法求。 引起阻带衰减指标不理想的原因是理想采样点之间的突 3、过渡带采样的计算机辅助设计（CAD） 0 ，可 最小。这时， 阻带衰减可达44-54dB，但过渡带为??=4?/N 。 以找到一个Hc1使 所以频响是Hc1与?的函数： 方法求。 Hc1 因为H(0), H(1),???, H(N?1),都是已知的，只有Hc1待求。 例如：加一个过渡点Hc1 ? 0、1 ， Hc1可以通过最优化的 ??=4?/N ? 0 0 要进一步提高阻带衰减指标，可以将过渡点再加至2、 3、…点，如图9-30所示。代价是过渡带??也成倍 增加。 ， ，边沿上设一点过渡点 ，求 或 、 。 ，因为 ， 且为低通，只能是Ⅰ型，即 ，在8、9之间， 例9-6用频率取样法设计一个线性相位滤波器（低通）， 其中 解：频率间隔 又因为 取过渡点n=9,24 (Ⅰ型的滤波器Hk= H N?k ) 这时，阻带最大衰减可达?44dB 过渡带宽