SPC实用手册.docVIP

统计过程控制 （S P C） 参 考 手 册 本手册所描述控制图的选用程序 注：本图假设测量系统 已经过评价并且是适用的  目录 第I章 持续改进及统计过程的控制概述 第1节 预防与检测 5 第2节 过程控制系统 7 第3节 变差：普通及特殊原因 9 第4节 局部措施和对系统采取措施 11 第5节 过程控制手过程能力 13 第6节 过程改进循环及过程控制 17 第7节 控制图：过程控制的工具 21 第8节 控制图的益处 25 第II章 计量型数据控制图 27 第1节 均值和极差图（X—R图） 29 A 收集数据 31 B 计算控制限 37 C 过程控制解释 39 D 过程能力解释 57 第2节 均值和标准差图（X—s图） 65 A 收集数据 65 B 计算控制限 67 C 过程控制解释 67 D 过程能力解释 67 第3节 中位数图（x—R图） 69 A 收集数据 69 B 计算控制限 71 C 过程控制解释 71 D 过程能力解释 71 E 中位数图的替代方法 72 第4节 单值和移动极差图（X—MR图） 75 A 收集数据 75 B 计算控制限 75 C 过程控制解释 77 D 过程能力解释 77 第5节 计量型数据的过程能力和过程性能的理解 79 A 过程术语的定义 79 B 过程量度的定义 80 C 条件和假设的描述 81 D 使用过程量度的建议 83 第II章 计数型数据控制图 89 第1节 不合格品率的P图 91 A 收集数据 93 B 计算控制限 95 C 过程控制解释 99 D 过程能力解释 107 第2节 不合格品数的np图 111 A 收集数据 111 B 计算控制限 111 C 过程控制解释 111 D 过程能力解释 111 第3节 不合格数的c图 113 A 收集数据 113 B 计算控制限 113 C 过程控制解释 113 D 过程能力解释 113 第4节 单位产品不合格数据的u图 115 A 收集数据 115 B 计算控制限 115 C 过程控制解释 117 D 过程能力解释 117 第IV章 过程测量系统分析 119 第1节 引言 119 第2节 均值和极差法 121 A 进行研究 121 B 计算 122 C 结果分析 123 D 示例 127 附 录A 关于分组的一些评述 131 附 录B 过度调整 137 附 录C 本手册所描述控制图的选用程序 139 附 录D Cpm与其它指数（USL—T）=（T—LSL）的关系 141 附 录E 控制图的常数和公式表 143 附 录F 标准正态分布 147 附 录H 参考文献及建议的读物 159 附 录I 可复制的控制图表 161 插图目录 图 名称 页次 过程控制系统 6 变差：普通及特殊原因 8 过程控制及过程能力 12 过程改进循规蹈矩环 16 控制图 20 计量型数据——测量中间或最终过程输出的结果 26 X—R图 30 X—R图建立数据 32 X—的图“初始研究” 34 有控制限的X—R图 36 R图——有超出控制限的点存在 38 R图——链（极差） 40 R图——非随机模式 42 X—R图——重新计算控制限（极差） 44 X图——超出控制限的点 46 X图——链 48 X图——非随模式 50 X—R图——重新计算控制限 52 X—R图——延长控制限 54 相对无规范限界的过程变差 56 计算过程能力 58 评价过程能力 60 数据收集 64 X和s图 66 中位数控制图 68 中位数控制图—解释 70 单值移动极差图 74 单值和移动极差图的解释 76 “目标柱”与损失函数的比较 82 调整过程与要求一致 84 计数型数据 88 不合格品率p图——数据收集 92 不合格品率p图——计算控制限制—表1 94 33 不合格品率p图——计算控制限制—表2 96 不合格品率p图——超出控制限制的点 98 不合格品率p图——链 100 不合格品率p图——非随机图形 102 不合格品率p图——重新计算控制限 104 不合格品数的np图 110 不合格品数的c图 112 交易会产品不合格数的u图 114 u图——重新计算控制限 116 量具的重复性和再现性数据记录表 124 量具的重复性和再现性报告 125 量具的