La_(1-x)Sr_xMnO_3电极的制备及其对Ba_(1-x)Sr_xTiO_3薄膜介电性能的影响.pdfVIP

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La_(1-x)Sr_xMnO_3电极的制备及其对Ba_(1-x)Sr_xTiO_3薄膜介电性能的影响.pdf

39卷第1期 人 工 晶 体 学 报 v。1.39No.1 CRYSTALS OFSYNTHETIC 2010年2月 JOURNAL February,20lQ— Mn03电极的制备及其对 Lal一xSL Ti03薄膜介电性能的影响 Bal一工Srx 辛立强,付兴华,于玲君,崔永涛 (济南大学材料学院,济南250022) 形貌、薄膜厚度进行了表征,研究了退火温度对薄膜结构及电阻率的影响,以及介电常数与介电损耗随频率变化的关 系。结果表明:在菇=O.5,退火温度为800oC时,讽,Sro.5Mn03薄膜的电阻率为1.2×10。n·cm。‰5Sro5Mn03薄 的改善。 关键词:溶胶—凝胶技术;LahSrxMn03电极;BahSrxTi03;外延生长;介电性能 中图分类号:04“ 文献标识码:A andInfluenceon of ElectrodeMaterial Preparation Lal一工SrjMn03 Performanceof ThinFilm Dielectric Bal一童SrjTi03 XIN Yong·tao Li—qiang,FU瓤愕一hua,阳Ling-jun,CUI ofMaterialsScienceand (School Ensincering,Univers时ofJinan,Jinan250022,China) 24 15 (ReceitcdJune2009,acceptedDecember2009) materialw够fabricatedon electrode Si(100)substratebySol·gelprocess.The Abstract:Lal一,钆Mn03 films characterizedXRDandSEM.The andthicknessofthin were structure,surface by crystal appearance effectof on dielectricconstantandloss temperaturestructure,electricresistivity,the dependence annealing showthat lowestelectric of is1.2x10。2 of werestudied.neresults the resistivityLal一。Sr,Mn03 frequency inthecondition at thinfilmOil Q·cm

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