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第28卷第8期增刊 仪器仪表学报 V01．28No．8
2007年8月 Chinese ofScientifieInstrument Aug．2007
Journal
模数混合信号的可测性设计方法研究
雷加，刘 伟
(桂林电子科技大学桂林541004)
摘要：随着集成电路的迅速发展，特别是片上系统SOC的出现，混合信号电路的集成度越来越高，其测试变得越来越复杂。
传统的测试方法已经很难对模数混合信号进行有效测试，测试问题成了长期以来制约其发展的瓶颈，因此研究混合信号电路
的测试测试方法具有重要的理论价值和实际意义，可测性设计(DFT)被认为是解决此问题有效的方法，本文主要讨论了可测
性设计的边界扫描和内建自测(BIST)技术。
关键词：可测性设计；边界扫描测试；IEEEll49．4标准；内建自测试
ofDFTto and
Study digitalanalogmixed—signal
Lei Wei
Jia．Liu
(Guilin Electronic 541
004，China)
Universityof Technology，Guilin
the of of inte—
Abstract：With S()C．Mixed-signal
rapiddevelopmentintegratedcircuits，especially，theemergence
circuitsis andit’Stesthasbecome methodshavebeen
grated growing increasinglycomplicated．Traditionaltesting
difficulttotest of circuitshasrestrictedtheir ofmixed-
mixed-signal．Testmixed-signal development．Thestudy
circuit methodhas theoreticaland isconsideredtobeeffective
signal testing important practicalsignificance．DFT
tosolvethis discusses testandbuilt-in
way problem．Thispapermainly boundary-scan self-test(BIST)．
for self-test
Keywords：designtestability；boundary-scantest；stdIEEEll49．4；built-in
拟电路的参数特别多，其功能描述是以名义参数的简
1 引 言 化来说明，实际上每个参数都包含一定的范围。
(3)模拟电路的故障模式众多，特别复杂。
近年来，
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