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SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪
简介：
SZ-100 是最新推出的纳米粒子解析装置，可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子，并能完全解析纳米粒子的物质结构。该仪器被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、石炭、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和 CMP 等的检测。
高灵敏度、高精度的测量 全方位表征单一体系纳米尺度粒子 完全解析纳米粒子的物质结构
应用范围? ● 陶瓷粒子 ● 金属纳米粒子 ● 碳黑 ● 制药 ● 病毒 ● 涂料 ● 化妆品 ● 聚合物 ● 食品 ● ＣＭＰ● 颜料、油墨
技术参数：
粒子直径测定 ● 超宽动态光散射测量范围: 0.3nm～8000nm ●通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化。 ●在单一纳米粒子专用光学系统中，采用更低杂散光90°检测光学系统。 ●双光路系统（90°和173°）适用于更宽浓度范围的样品测量，可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。
Zeta电位测定 ●通过安装的标准微型样品池，可以测定仅100μL的样品。
主要特点：
●超小体积设计 ● 可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量。 ●样品浓度从PPM到百分之几十，SZ-100都能在原液状态下取样和测定。 ●HORIBA自主研发的微量电泳样品池， 可以测定仅100μL的Zeta电位。 ●广泛应用于胶质粒子、 机能性纳米粒子、 高分子、胶束、 核糖体、 纳米囊等的测定。 ●操作简单，进样、设定参数后，只要按开始按钮即可得到测量结果
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