一种逻辑内建自测试移相器的设计方法.pdfVIP

维普资讯 2006年第23卷第 12期 微电子学与计算机 61 一 种逻辑内建自测试移相器的设计方法 孙家亮 张 岩 谷 岚 (哈尔滨工业大学深圳研究生院片上系统研究中心，广东深圳 518055) 摘 要：针对 内建 自测试移相嚣，提出了一种基于逻辑仿真穆相器设计和改进的快速算法。只需对 几阶LFSR (LinearFeedbackShiftRegister)进行2ll—1个周期仿真即可得到合适 的移相选择矢量 ．由这些选择矢量构成值胞 该方法得到的移相器选择矢量清晰地反映 了值胞的组成和分布情况，从而避免了对偶LFSR的多次前 向、后向仿 真，降低了移相器的设计时间。对比实验表明。该方法是有效的。并且其硬件电路实现具有更小的硬件开销。 关键词： 内建 自测试，线性反馈移位寄存嚣。移相器，值胞 中围分类号：TN302 文献标识码 ：A 文章编号：1000—7l80(2006)12—0061—04 A PhaseShiftersM ethodforBuilt-inSelfTest SUNJia—liang，ZHANGYan，GuLan (ResearchCenterofSOC，ShenzhenGraduateSchool，HarbinInstituteofTechnology，Shenzhen518000，China) Abstract：A fastand improvedphaseshiftem methodforBISTisintroducedbasedonlogicsimulation．Theproper phaseshifterselectionvectorscanbeobtainedbysimulatingn—stageLFSR(LineraFeedbackShiftRegiste啦 1cycles， thevaluecellsarecomposedoftheseselectionvectors．Theselectionvectors，whichraeobtainedbythismethod，reflect thecomponentsanddistributionsofvaluecellscleraly，thusavoidanumberofofrwardandbackwardsimulationsofdual LFSR，thedesigntimeofphaseshifters isreduced．Comparedwiththeexperimentresults，theproposedmethodshows itseffectivenessandthehardWraecostofphaseshifterisminimized． Keywords：BIST,IJFSR．Phaseshifter,Valuecell 1 引言 改进这一缺陷的方法是在LFSR的并行输出与 内建 自测试 BIST(Built—inSelfTest)由于其硬 多扫描链 的并行输入之间加入移相器 PS(Phase 件开销小，实现简单。并且可以克服使用ATPG(Au． Shi~er)。引入移相器的基本思想是：通过 由异或门 tomaticTestPatternGeneration)工具的缺点，因而受 构成的组合电路降低移相器输出的测试向量之间 到了广泛的重视和采用。 的相关性 移相器设计 的目的就是决定 由哪些 基于多扫描链的内建 自测试技术使用线性反 LFSR单元的异或组合结果产生的输 出序列来保证 馈移位寄存器LFSR生成测试向量．使用多输入移 对另一参考 LFSR单元的输出序列具有给定 的相 位寄存器 MISR(MultipleInputShihRegister)压缩 移 。 测试响应。由于LFSR本身的结构依赖性可导致其 移相器 电路的设计原理有两种…：常相移相器 生成的测试向量之间具有相