第五章-多道(2学时) 核仪器概论课件.ppt

* 2．2．1、 用于NaI探测器的插卡（ISA）式的多道分析器。 其中包括： 放大器、稳峰器、ADC、 存储器及仿真软件。 2．2 MCB的其它产品实例 * 2．2．2、插卡（PCI总线）式的多道分析器。 * 2．2．3、ORTEC生产的CAMAC FERABUS ADCS是标准化的产品与IBM PC机及SPARROW Kmax软件结合，可构成一个功能强大的多参数数据获取系统。 * 关于CAMAC标准： CAMAC标准是核物理、高能物理中使用的另一种仪器的制作标准。 前面讲过的NIM标准是在计算机大量使用之前制定的。没有考虑插件之间的大量数字信息的传递问题。因此一般只适用于模拟信号处理系统。 随着计算机的发展和大量使用，核测量系统的构成规模在不断加大。各插件之间、插件与计算机之间有大量的数字信息需要传递。 CAMAC标准被提出。1975年国际电工委员会通过并推荐CAMAC标准为一种国际仪器标准。 CAMAC标准不仅在机箱及插件的机械结构、电源标准、信号电平等方面做了规定，而且在信息的传输方式、信号传送的硬件及软件方面也规定了标准。因此使用CAMAC标准的机箱、插件可以方便的组成大规模的以计算机为核心的在线系统。 * 若将多道脉冲幅度分析器测出的幅度谱转换为被测射线的能量谱必须首先进行系统刻度。 系统刻度就是由已知的放射源（刻度源）获取谱数据，然后对谱数据进行处理。求出： 五、系统的刻度 能量刻度曲线（能量和道址关系曲线）， 能量分辨率刻度曲线（FWTM和道址关系曲线）， 效率刻度曲线（探测效率和能量的关系曲线）。 在通用γ谱获取和处理系统中，一般都配备 有系统刻度程序 * 能量刻度： 刻度源：多种已知放射性核素混合而成（核素名 称、活度、半衰期、产额、各峰能量） 。 能量分布均匀。 * 谱的常规数据处理包括：谱的平滑化处理，寻峰，求峰的净面积，零点和增益漂移的校正，谱曲线的拟合，核素识别和定量分析等。 下面我们以γ谱数据处理为例，对谱数据处理方法做一些简单介绍： 六、谱的数据处理 对不同的应用场合，谱的数据处理方法可能不同。但对于一些通用的而且处理方法比较成熟的系统（如γ谱仪），在仪器系统建造的同时就配备有数据处理软件。 * 1、谱的平滑化处理 谱数据中的统计涨落，往往给数据分析带来困难。例如在寻峰时，计数的统计涨落可能被误认为是一个假峰。因此常常需要对谱进行平滑化处理。如右图，其中分散的点为原始数据，圆滑的曲线为经平滑后的谱曲线。 一个谱可能需要平滑多次。平滑的次数越多，平滑后的谱数据的统计涨落越小。但可能使峰的能量分辨率变坏，弱峰消失。 因此实际需要平滑的次数要根据具体情况设定。 用二阶多项式拟合谱数据 进行谱平滑化处理 * 2、自动寻峰 自动寻峰就是用计算机程序在谱数据中寻找峰并准确地定出峰位。对于通用的γ谱数据获取和处理系统，要求自动寻峰能够在较高的康普顿坪或自然本底上寻找弱峰，同时不能把本底的统计涨落误认为峰。在多个峰重叠在一起的情况下，能够定出其中每个 峰的峰位。 3、求峰的净面积 如右图。峰区内，各道的计数和称为该峰区的总面积（如图中mL与mh中各道的计数之和）。 * 峰的总面积减去本底面积称为峰的净面积（如图中的斜线部分）。通过峰的净面积，可求出核素的放射性活度。 知道主峰的净面积之后，可利用下式定出该核素的放射性活度 。 4、核素放射性活度的计算 活度（微居）= 峰净面积ⅹEXP[Ln2ⅹ衰变时间（分）/半衰期（分）] 3.7ⅹ104ⅹ测量活时间（秒）ⅹ产额ⅹEFF （说明：式中EFF为该能量γ射线的光子的探测效率） * 作 业： 回答下列问题： 1、谱仪ADC与一般商品ADC相比较，主要的不同点是什么？ 2、简述线性放电法ADC的工作原理。此种ADC的主要优缺点 是什么？ 3、逐次二进制比较法ADC的主要优缺点是什么？ 4、在谱仪ADC中，使用滑尺技术的目的是什么？ 5、使用谱仪ADC对能谱进行测量时，如何选择道宽？ 6、为什么要进行“系统刻度”，“系统刻度”都包括哪些 内容？ * 谱仪ADC测量快速随机脉冲幅度分布的模数变换器，不同于一般商品生产的模数变换器集成电路。它不是对慢变化信号进行采样－保持，然后进行变换。而是对快速随机脉冲幅度进行模数变换。它不是象一般模数变换那样只要求精确到最低位的±1/2位或±1/4位，而要求微分非线性（道宽的不一至性）不超过±1/100，这样才能使所测谱（各幅度间隔中