采用高耦合度分裂电抗器的并联型断路器均流过程研究.pdfVIP

高 电压技术 第 38卷 第 8期 2012年 8月 31日 HighVoltageEngineering，Vo1．38，No．8，August31，2O12 采用高耦合度分裂电抗器的并联型断路器均流过程研究 袁 召，尹小根 ，潘 垣 ，何俊佳 (华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室，武汉430074) 摘 要 ：为 了研究基于高耦合度分裂 电抗器 (highcoupledsplitreactor，HCSR)的并联型断路器 的并联均流效果 ， 推导了简单并联及基于 HCSR的并联型断路器并联支路间不平衡 电流的表达式，通过分析得 出结论 ：HCSR单臂 限流 电感、双臂间耦合度 、选用的断路器弧阻大小等因素是影响并联型断路器均流效果的主要 因素 。为验证上述 结论 ，建立了HCSR、真空灭弧室 、SF 灭弧室 的电路仿真模型 ，开展 了相关仿真分析 ，并采用合成 回路进行 了对应 断路器并联开断实验 。仿真、实验结果与理论分析结果相符合 。基于上述研究结果 ，最终给 出了针对不 同类型并 联 断路器 的HCSR单臂