GE相控阵技术介绍.ppt

常规探头 根据具体的应用和检查位置的不同，常规探头必须根据要求作出不同的焦点，角度，口径。 相控阵探头的基本结构 相控阵技术 常规探头由单晶片组成. 相控阵探头由多个单一晶片组成. 孔径的大小由被激发的晶片数和探头外形组成. 相控阵探头 一个相控阵探头可被比喻成一个大的单一晶片探头—它被分割成多个小的晶片.当连接到相控阵仪器时，声束的方向和焦点能够被改变由于单个晶片的脉冲发生时间的微小差异. 相控阵技术的术语 当一个常规探头想要改变声束脚，我们必须改变不同的探头或楔块. 调焦点我们必须使用透镜.调焦点我们必须改变探头. 想要检测部件的不同位置我们必须要人为的移动探头. 使用相控阵探头声束角度可以被自动改变. 焦点也可以被自动改变. 方向和焦点可被组合. 相控阵探头的类型 可订制的各种相控阵探头 历史：来源于医疗领域 单一晶片的探头 B-scan 线扫描 声束角控制 线阵列扫描 (B-scan) – 3个边孔 , 1mm 直径 线阵列扫描 (B-scan) –在具有高衰减和散射的复合材料中有很强的穿透能力  3 mm平底孔 ,材料厚度20 mm 扇扫 扇扫 – 平底孔 扇扫 –多个缺陷 扇扫 –很好的分辨率 探测能力 对比 要点 What it is Phasor CV Phasor xs Phasor xs 焊缝检测 在一条线上快速扫查缺陷 如何定义正确的常量 焊缝的缺陷分析 体积形工件 钢轨 法兰盘 飞机机身蒙皮的划痕检测 有相似的操作界面，延续了其它常规超声仪的模式. 常量 优点: 单个探头就可以覆盖全部焊缝检测区域 应用领域： 常量 焊缝 探头移动 尽量同时获得上下端角的信号 2T (一个跨距) 顶部 T （半跨距) 底部 41° T = 24 mm 32 mm 优点: 很容易区分出几何信号和缺陷信号 bottom top 相控阵技术可检测到大部分的位置. 缺陷易于和几何形状区分开. 1a 3a 4a 5a 2a 相控阵探头 6a 7a 8a 9a 485 Angled 45, 60, … LW SW Flat Large or small aperture Focused (diff. radius) 外壳 共振线圈 基体材料 阻尼材料 常规探头的组成 常规探头的单晶片晶体在很多情况下已经被压电组合晶片替代.这一个前提帮助相控阵探头的发展与形成 GE检测科技在用压电组合晶片做探头的基础上，研发了相控阵探头---达到多个探头的组合功能.并且探头的尺寸相识于常规探头. P/R Trig P/R Delay P/R Delay P/R Delay P/R Delay P/R Delay P/R Delay P/R Delay P/R Delay Trig Crystal Crystal Crystal Crystal Crystal Crystal Crystal Crystal Crystal Pitch Elevation 节距每两个相邻晶片的中心点之间的距离. 宽度单一晶片的宽度. 有效探头被作为一组去创建想要的声束特征的单一晶片数（口径） 相控阵原理 (1 of 6) 相控阵原理 (2 of 6) 相控阵原理 (3 of 6) 相控阵原理 (4 of 6) 相控阵技术 (5 of 6) 相控阵技术 (6 of 6) VIDOSON 635 Krautkr?mer) 1968: 线阵列探头 1964: 双胞胎, 1965 第一个旋转探头 0 2 4 6 8 10 IP FE BWE 缺陷 背部回波 y x 2-dim. scanning (x, y) y x z 20% 40% 60% 80% 0% 100% 振幅标尺 z [mm] 常规探头 A-scan IP 缺陷 背部回波 线阵列扫描 (y) x [mm] 相控阵探头 y FE BWE B-scan z [mm] 20% 40% 60% 80% 0% 100% 振幅标尺 y x z 声束角聚焦并转向 声束角聚焦 声束角转向 线阵列扫描 固定角线扫 易于发现------相控阵模式 用常规模式评判-----依据相应的标准 探头: 64 晶片, 2 MHz, 0.75 mm 节距 12 mm x 12.5 mm孔径 ?1 ?2 Beam cursor (angle) 8mm Selected beam Gate A Gate B Thickness line (bottom) Top echoes (tip diffraction) Strong base e