Electrical characteristics test.ppt

* Cable test Training 电缆产品测试培训/电性能部分 Cable test Primary test初级测试项目 Connection resistance线路电阻, Hi-pot高压, Insulation resistance绝缘电阻, Continuity导通, Milliohm test毫欧级测试, INT瞬间测试… Secondary test更多的检测项目有 Impedance test特性阻抗, Attenuation (insertion loss)衰减/插入损耗, Crosstalk串扰, Skew时延差, Rise time degradation上升时间衰退, EMI shielding电磁屏蔽 整体性能测试 Eye pattern眼图测试, Jitter信号抖动测试 Primary tests Connection resistance线路电阻 Milli-Ohm resistance毫欧级电阻 Continuity test导通测试 Hi-pot (Withstanding voltage)高压/耐压 Insulation resistance绝缘电阻 Intermittent (INT)瞬间短断路、瞬间接触不良测试 Connection Resistance线路电阻 电缆产品的电阻约10毫欧至1.2欧(0.1m~3m产品) 夹具连接器接触电阻 1毫欧~几百毫欧，依连接器类型、装配及磨损情况不同而异 转接线、测试接线等的线电阻 0.1~1欧姆 26 AWG-142 milliohms/meter maximum 28 AWG-226 milliohms/meter maximum 30 AWG-358 milliohms/meter maximum Source: IBM Engineering spec No. 6932526 UL spec, website: / 线路电阻connection resistance*相关事件分析 case/event study CT8681/CT8650的电阻测试即典型的线路电路 connection resistance 测试机, 整个机器从主板、继电器及各出口连接器均为两线的测试电路。其测量结果包含了许多不稳定的不可修正的误差源，因而其低电阻测量结果误差是相当大的： 1 主板线路走线的不一致性， 需要预先校正进行修正 继电器老化引起的接触不良 测试机出口连接器磨损引起的接触不良 夹具引线电阻不一致引起误差 CT8681 tester MilliOhm Resistance毫欧级电阻 电缆产品的电阻 适配连接器接触电阻（毫欧级） 4 线测试方法其测量点延伸到电缆产品的适配连接器端， 将大部分夹具的引入误差消除了 毫欧级电阻milliohm resistance*相关事件分析 case/event study Touch 1 为典型的毫欧级电阻测试机milliohm resistance, 使用了4线测试可侦测毫欧级的变化； KS 有两款IDC产品(special VHDCI, special RJ4 lan cable)由于其设计作了更改,IDT 接触不良, 客诉为INT不良. 用两线测试机2 ohm 规范不能侦测出坏品而用毫欧级电阻测试机0.22 ohm~0.63 ohm规范侦测出来大量的不良品,通过切片分析及40X放大镜观察确认了其问题所在;因而其在检测问题、推动制程改善及质量改进方面的贡献是显而易见的 Touch 1 tester 1000H+ tester Continuity导通测试 导通测试即点对点的导通测试，仅检测导通电阻的存在， 对导通阀值（2KΩ/10KΩ/20KΩ…）不敏感 导通测试类似与我们通常所说的Open / Short test 短断路测试 Automotive汽车线束有一IDC产品由于起初只要求导通测试continuity test, 由于压接模具问题导压接不良、接触不良/导通电阻偏大的问题未能及时检测，最终导致不良品大量流出，对公司信誉及经济利益造成负面影响 Continuity导通测试*相关事件分析 case/event study Hi-pot (Withstanding voltage)高压 高压施加在两不导通的点位间以检验应开路的导线/连接器间的耐压特性 高压测试有利于检测两靠得非常近的导体间存在的污染物(如金属披锋) Hi-pot duration高压时间 : 指在两导体间施加高压的时间 Hi-pot 高压测试*相关事件分析 case/event study 背景:生产部及市场开发部统计发现LFH60 /DMS59 及USB 产品因漏电而报废的数量比较多，同时发现将