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东区异常事例教育资料 作成：石文妹 背景介绍 教育内容 一、混入/写入错误 2.异常内容：再检ROM调取错误（混入） 3.异常内容：QAT出现混入 1.任何工程再检是必须将数据打印出来，并且要将数据及作业报告书确认清楚后才安排再检投入，严禁出现连续投入。 2.对于L930设备某个道出现卡IC时，测试不会立即停止反而继续测试，导致测试的数据会出现C1不良误差，这时必须要在作业报告书中注明详细原因。一批出现卡IC两次以上时设备要报修。 3.测试中途发现个别制品弯曲， 严禁中途修正，确认装置是否异常，制品由班长处置。 4.异常内容：T58出现C15（未测品混入） 二、逆入 2.整管中有一枚IC逆入 3.整管中后3枚IC逆入 三、过不足 2.异常内容：T95点数时发现端数管中少一枚IC 3.异常内容： T95点数时发现整管中少一枚IC 四、管脚弯曲 2.异常内容：N93抽检时发现第三边第一PIN IC管脚变形 1.异常内容：QBK实施错误（抽取80枚） 六、材料用错 32P4X与32P4B区分料管彩图 42P4X与42P4B区分料管彩图 七：温度异常 栓订位置不同 42P4X料管 42P4B料管 * 2009年11月 测试一科 1.目的 用典型异常实例教育作业者按照现场规定进行作业，防止作业失误出现异常，杜绝重大异常出现。 2.教育对象： 测试全员。 3. 教育时间 每年2月、4月、6月、8月、10月、12月 一、混入、写入错误 二、逆入 三、过不足 四、管脚弯曲 五、N51/QAT异常 六、材料用错 七、温度异常 1.异常内容：整批100P6S制品中有一盘80P6N制品 混入 异常发生经过： 两批制品都经过SCF检查，66枚IC为一整盘，实施完SCF返回母集团时由于作业者只确认两盘IC的打印号，（两批制品打印号相同）就返回母集团，结果两批制品整盘IC（66枚）返回错误，造成异品种混入 80P6N 100P6S 对 策 1.SCF必须抽取1LOT，检查完返回后才可以进行下一LOT抽取。 2.明确规定返回位置统一返回方法（与作业报告书夹在一起返回指定作业台），严禁两LOT同时返回。 3.SCF样品上进行标识，将MCU作业报告书同抽取样品流动。 异常发生经过： 作业者做再检时未使用“DL”调程序，在手动调取程序时把ROM号输错。实际为241，错输入为214，调完程序作业者也未找第二人双重确认，自己代签第二人签名就直接开始作业。等此LOT完了后作业者填写数据时发现ROM写入错误，事后报告班长。 对策 1.现场作业时必须使用“DL”调取程序，如果“DL”不可用将制品停止上报工程师。 2.现场作业时严格按照标准作业去确认程序，禁止不双重确认就开始作业。 第一个人程序确认方法 ① ② ③ 检移票对照电脑屏幕，对照无误后在检移票相应位置画圈确认。确认的项目：KEYNO、ROM、SW、测试温度、品种名、程序名、工程号 将电脑屏幕显示的SW、ROM抄写在“MCU测试作业报告书”上（无ROM就划“∕” 将检移票与作业报告书上SW、ROM对照，确认无误后在作业报告书上画圈确认 双重确认方法 确认项目：ROM、SW、程序名。确认方法：检移票拿着电脑屏幕对照，确认无误后在检移票相应位置用粉色荧光笔画道确认 “MCU作业报告书”上抄写的ROM、SW与检移票上的ROM、SW对照，确认无误后在作业报告书ROMS、W上打钩确认 第二个人确认完了后签名 异常发生经过： ZGE220000H QAT出现C2不良1枚ZFV947000H QAT出现C2不良5枚 测试流程:T10-T31-N31-N42-N51-QAT 此制品QAR出现C2不良可能是：N51未测或不良品混入 ZFV947000H