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数字逻辑与电路实验 实验一基本逻辑门的逻辑功能测试与应用 一、实验目的 1、掌握集成非门、或门、与非门、或非门、异或门的逻辑功能及功能转换； 2、掌握TTL、CMOS器件的使用规则； 3、熟悉数字逻辑与数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。 实验一 二、实验原理和内容 在数字系统中，除应用与、或、非三种基本逻辑运算之外，还广泛应用与、或、非的不同组合，最常见的复合逻辑运算有与非、或非、与或非、异或和同或等。 （1）与非门 外引线功能端排列分别如图1-1 和1-2 所示。 实验一 图1-1 74LS00 四两输入与非门 图1-2 74LS20 双四输入与非门 实验一 （2）非门 外引线功能端排列如图1-3 所示。 （3）异或门 外引线功能端排列如图1-4 所示。 图1-3 74LS04 六反相器 图1-4 74LS86 四异或门 实验一 三、实验仪器、设备和器件 1、数字逻辑电路实验箱 一台。 2、集成电路74LS00、74LS04、74LS20、74LS32、74LS86。 实验一 四、实验内容与步骤 验证集成非门（74LS04）、或门（74LS32）、与非门（74LS00）(74LS20)、或非门（CD4001）、异或门（74LS86）的逻辑功能。 先查找相应集成芯片管脚图，如图1-5所示为与非门74LS00的管脚图，管脚标“VC