量子电路中门失效错误的检测方法.pdfVIP

第29卷第10期 仪 器 仪 表 学 报 V01．29No．10 ofSeientifieInstrument 2008年lO月 ChineseJournal Oct．2008 量子电路中门失效错误的检测方法 肖芳英1，陈汉武’，李志强1’2 (1 东南大学计算机科学与T程学院南京210096； 2扬州大学信息工程学院计算机科学与技术系扬州 225009) 摘要：可逆电路是量子计算科学、低能耗COMS以及纳米技术研究的基础。针对可逆电路单个门失效错误，本文给出了一种 生成完备检测集的方法来检测所有町能的错误。实验结果表明。对于规模较大的电路，现有的DFF检测方法需要添加门的数 量占电路中门数量的一半以上二；利用本文算法由于不需要添加额外的门，而且得到的完备检测集是所有可能的向量中非常少的 一部分。另外，对于某些实现技术。DI’r检测方法应用受限，本文给出的方法