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- 2015-09-26 发布于广东
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第十章 无损探伤
第一节 射线探伤
第二节 超声波探伤
第三节 红外探伤
第四节 涡流探伤
第一节 射线探伤
一、射线探伤法的基本原理和方法
射线探伤主要有:透视照相法、电离检测法、X射线荧光屏观察法
和电视观察法等。其基本原理相同,都是利用射线通过物质时的衰减规
律,即:当射线通过物质时,由于射线和物质的相互作用 ,发生吸收和
散射而衰减,其衰减程度因其被通过部位的材质、厚度和存在缺陷的性
质、大小而界。
1.照相法
照相法是利用射线感光材料,放在被透照试件的后面接受来自透过
试件后不同强度分布的射线 。
2.电离检测法
X射线通过气体时,撞击气体分子,使其中某些原子失去电子而变
成离子,同时产生离子电流。
此法的特点是:能对产品进行连续检测,便于自动化操作,可采用多
探头,效率高,成本低。
3.荧光屏直接观察法
荧光屏观察法,是将透过被测试件后不同强度的射线 ,投射在涂有荧
光物质的荧光屏上,激发出不同强度的荧光来 ,成为可见的影像,从荧光
屏上直接辨认缺陷 。
在荧光屏上观察时,为了减少直射 X射线对人体的影响,而在荧光屏
后用一定厚度的铅玻璃吸收X射线,并将图像
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