制程不良认识 依公式分析(PE课).pptVIP

制程不良認識 電感過低 電感公式:L=u*A*N2/l+u*gap 鐵芯結合處是否有異物(膠帶,研磨粉 塵等) 鐵芯材質用錯(u值低).鐵芯膠帶過鬆 圈數過少,CORE兩臂未對齊. 腳位纏錯,同組圈數(其中一組錯) GAP間距大,鐵芯破裂(磁鐵磁性太強吸破) CORE太短興BOBBIN組立後CORE兩臂有間隙. 內銅箔短路 內部繞組短路(層間耐壓不良) 環境溫度較規格溫度低 電感過高 電感公式:L=u*A*N2/l+u*gap .鐵芯材質用錯(u值高). .圈數多繞 .環境溫度太高 .研磨鐵芯中柱點膠受垃力影响. .鐵芯破裂陷下去(研磨鐵芯) 制程如何控制漏感不良 同一個機種來說:漏感與繞線作業時線包大小成正比 線包大漏感高 線包小漏感低 控制漏感不良須首先控制線包大小做起 制程如何控制漏感不良 制程如何控制漏感不良 控制漏感最基本之作業方法 各層繞線,包ACT.TAPE須拉緊. 能以CNC作業必須以CNC作業. 注意CNC導線夾具不可過松.以能拉進線為宜. 固定膠,絕緣膠不可多包.起繞與結束點不可重疊過多. 選用絕緣膠時在符合客戶要求之前提下,選用較薄材質之TAPE. 各層銅箔繞制時焊點不可重疊應錯開繞制. 制程如何控制漏感不良 制程如何控制漏感不良 制程如何控制漏感不良 制程如何控制漏感不良 制程如何控制漏感不良 課程結束，謝謝！ Information Service Department 赵风谱 特性解析 A、漏感(LK):公式﹕LK=Wa*(nc+a)/n2b 指未被利用到之電感,是一种能量損失,一般是指泄漏於磁 路以外的通過空气耦合之磁場能量,漏感越大損失能量越大, 變壓器之利用率越低,故漏感越小越好,若漏感值距上限較近, 測漏感值至少需比上限值少10%,制程才能控制. 影響LK原因: 1.線包大 2.繞線不平、交叉重疊 3.疏繞不平,均未繞滿線架 4.原設計不合理 5.繞組引出線未直角拉出 6.CORE接觸面有異物 7.CORE GAP位置(耦合越好,漏電流越小) 8.繞線方式(疏線LK小) 9.包膠布厚度 10.繞線圈數、線徑 11.GAP大小及控制方式 12.CORE使用錯 13.機儀器差異 14.操作者作業方式 15.環境(溫度) 次級繞組與主線圈繞組之間 間隔距離大小, 各組繞線須均勻布滿幅寬, 是制程控制漏感之理論依据 PIN TOP 3.0mm 6.0mm 6.0mm 3.0mm TOP PIN OK NG 各層繞線須均勻布滿繞線幅寬 BOBBIN 各層繞組進出線未緊靠檔牆 排線不均勻即密繞不密,疏繞不均 BOBBIN OK NG 各層繞線幅寬明顯不等 保持足夠,平整之繞線幅寬 TOP PIN 3.0mm 6.0mm BOBBIN NG 繞線不平整 膠帶反折,未包平整 繞線雖均勻但未佈滿幅寬 漏感會不高嗎? 如此作業能使下一層繞線均勻平整嗎? 固定膠過長增加線包之厚度 繞線未均勻布滿幅寬 B、電壓比(V)指當初級邊輸入某一特定電壓後,在次級邊能輸出 之電壓,制程中一般以CH-310 20KHZ 10V接於初級邊,於次 級邊感應出之數值 影響電壓比原因:(主要不良原因為繞線位置不對) 1.繞線圈數 2.繞線方式 3.GAP位置 4.繞線平整度 5.儀器差異 處理方法: 1.不良繞組拆除,重繞至規定位置 2.移動鐵芯靠向PIN端或TOP端 3.CORE拆除後重包 C、電阻(DCR): R=ρL/A,A=截面積 L=長度(公分) 影響DCR原因: 1.銅線長度(線包大、繞線不平) 2.線徑(銅線拉得過緊將 線拉細、套管穿得過多導致銅線拉細、線徑間斷性偏小偏大 、銅線用錯) 3.繞線圈數 4.溫度 5.漏焊連通 6.多股線 剪斷 7.絲包線或絞線有斷線 8.原設計規格偏上限(DCR要求 穩定在一定範圍,不允許高出上限,有上下限要求時,不允許超 出範圍) D、Q值: Q=1/D= ωL/R 是衡量一個產品整體品質狀況的指標即品質 因素;也是衡量諧振波的尖銳程度一種指標,它與產品測量頻率 、主電感值、線圈阻抗、繞線結構因素有關,一般主電感越 高Q值越低,當前三項因素固定(一般變化不大)則Q值在制程 中主要取決於繞線結構,最突出需要控制部分為多股線,繞線 時必須緊密平整排列,銅線不可交叉,必須平行;有時一根銅線 交叉亦可能導致不良. 影響Q值原