软件评估+家电企业新挑战——浅谈软件评估中的存储器测试.pdfVIP

■热点追踪 ·日用电器 · 绝缘材料的破裂 · 栅氧化层缺陷 2．2开路产生的原因 造成开路的原因与短路类似，主要有以下几类 · 光刻印刷错误 · 阶梯覆盖 · 电迁徙 · 绝缘颗粒污染 · 不完全蚀刻 3存储器概述 图1栅氧化层短路 存储器这一器件在现今的半导体芯片中比比皆是，其对于 生，常见的有： 这些芯片的产量和质量都有着直接的影响。所以就单体来讲， · 光刻印刷错误 在当下和将来与半导体芯片相关的测试中，存储器的测试将会 · 可导电颗粒的污染 是其中最重要的部分。目前来说，单独的存储器还占有整个存 · 不完全蚀刻 储器市场的半壁江山，但是随着消费电子、手持设备以及个人 一一团 ElectricalAppliances1日用电器 2011．10 11 热点追踪 ·Hottrack WordLine 通讯产品的发展，嵌入式的存储器的市场将会越来越大，在可 -l- Wo_rJd_Line 以预见的将来，其份额应会超过九成。本文所要讨论的单片机 的内存也属于嵌入式芯片的范畴。 另一方面，从具体产品来看，存储器往往 占了半导体芯片 物理尺寸的大部分，所以相应地要对存储器区域投以更多的关 图3 CMOS存储器单元 注，以确保在设计及测试方面也占有 “大部分”。存储器不但 · SingleStuck—at故障模式 占据芯片物理尺寸的大部分，而且这部分往往也是整个芯片 “密 这个应该说是建立的最早且至今仍被广泛引用的一个故障 度”最大的地方：存储器中相邻两个结构之间的尺寸比芯片其 模式。IEC60730—1／GB14536．1标准中存储器故障也包含此类。 他部件的都要小，这也使得存储器成为最容易出现故障的部件。 所谓的Stuck—at故障模式，指的是电路中某单一节点被假 31存储器分类 设为具有固定的逻辑值 (Stuck—at0或Stuck—at1)的一种故障 存储器是用于数据 (Data)及代码 (Code)存放 、读取和 模式。该故障模式通常表示某一节点和电源 (Stuck—at1)或地 修改的物理期间。按照通用的分类方法，可以将存储器分为两 (Stuck—at0)直接相连。 大类：只读存储器 (ROM)和随机访问存储器 (RAM)。存储 · Transition故障模式 器的基本类型可以参见图2。