X射线残余应力的层析扫描测定.pdfVIP

年 月 重庆大学学报 （自然科学版） 2000 11 VOI .23 NO .6 第 卷第 期 （ ） 23 6 JOurnaI Of ChOngging UniverSity NaturaI Science EditiOn NOv .2000 文章编号： （ ） 1000 - 582X 2000 06 - 0100 - 04 X 射线残余应力的层析扫描测定! 陈玉 安，周 上 祺 （重庆大学 材料科学与工程学院，重庆 400044 ） 摘 要：针对常规 射线残余应力测定法和美国 应力仪测定方法存在的问题，提出了测定 X X2001