《USB2.0从物理层到协议层的测试方案》.pdfVIP

USB2.0 从物理层到协议层的测试方案 概述 自从1995 年USB （Universal Serial Bus，通用串行总线）诞生起，由于USB 接 口的简单易用、支持热插拔、速度快等特点被广泛应用于当今的电子产品中，USB 堪称是PC 平台上最成功的I/O 技术，除PC 及外设外，也成为打印机、手机及各种 消费电子产品标准的扩展接口。USB 标准规范历经多年的发展从第一代的1.0 Low Speed/1.1 Full Speed，演进到2.0 High Speed 标准，补充标准On-T he-Go （OTG ）允 许便携设备之间直接交换数据，在2008 年底USB 3.0 Super Speed 规范也已经发布。 这些接口标准都是向下兼容的，接口速度也由1.5Mbps，12Mbps，480Mbps 发展 到5Gbps。 随着接口传输速度的提高，对于设计和开发者来说，信号完整性的问题也越 来越突显，另外以串行的传输结构，在协议层和互操作方面也有更大的挑战。USB- IF （USB Implementers Forum，USB 实施者论坛）制定了一致性测试规范，在电气 层面、功能层面、互操作层面规定认证测试方案，并授权测试实验室认证测试， USB 相关产品通过测试取得USB