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《松下光耦应该案例(marked)》.pdf
MOSFET 输出光电耦合器
仪器仪表行业应用简介
2011.11 | /ac
随着多媒体社会的发展，高功能、高性能化的各种电子设备纷纷面世。为这些电子设备的性能提
供支持的测量仪器需要高度的可靠性。长寿命、高度可靠的 PhotoMOS 为这些测量仪器的发
展进步提供支持。
测量、检测仪器所要求的
性能概要
1 长寿命、高度可靠
IC测试仪
要
需 测量、检测仪器中需要使用多个免维护、长寿命、高度
可靠的PhotoMOS。
PhotoMOS不存在像机械继电器一样的机械动
作，寿命长，可靠性高。
2 低导通电阻
充放电检测仪
要
需
准确地控制微小模拟信号 ，并抑制数字脉冲信号的衰减。
PhotoMOS拥有低导通电阻型产品，导通电阻
的偏差也较小。另外，热电动势低达1μV以下。
半导体检查装置
3 低输出端子间容量 4 低漏电流
要 要
需 需
减少信号衰减，正确地切换信号。 尤其是使用多个时，可提高测量精度。
(typ.) (typ.)
输出端子间容量：
1.0pF (RF 低C型) 开路时的漏电流： 0.01nA (RF C×R5型)
1
电气测量设备
●半导体、IC测量仪器
存储IC测试仪
逻辑IC测试仪
IC测量相关设备
触摸屏、半导体测试仪
●电路板测试仪
光板测试仪
在线测试仪
数据记录器
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