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绪论 X射线衍射分析 2.1 X射线的物理基础 2.1 X射线的物理基础 第2章 X射线衍射分析 2.1 X射线的物理基础 第2章 X射线衍射分析 3.1 X射线的物理基础 第2章 X射线衍射分析 3.1 X射线的物理基础 连续X射线谱由X射线管发出的X射线是一种连续波长和特征波长混合X射线，所构成的谱与可见的白光类似，故又称为白色X射线 Moseley通用公式： 材料X射线分析常用阳极材料K系特征谱线 2.1 X射线的物理基础 2.1 X射线的物理基础 2.2 X射线衍射原理 2.2.1 X射线的衍射 2.2 X射线衍射原理 2.2.1 X射线的衍射 由于只要α’角满足上式就能产生衍射，因此，衍射线将分布在以原子列为轴，以α’角为半顶角的一系列圆锥面上，每一个H值，对应于一个圆锥。 在三维空间：入射线方向为S0，晶轴为a，b，c，交角为α，β，γ；衍射线S与晶轴交角为α’，β’，γ’ 布拉格方程 与某方向上的散射线满足“光学镜面反射”条件（散射线、入射线与原子面法线共面）时，各原子的散射波将具有相同的位相，干涉结果产生加强，相邻两原子A和B的散射波光程差为零，相邻面网的“反射线”光程差为入射波长λ的整数倍： 在衍射工作中，往往将晶面族（hkl）的n级衍射作为假想晶面族（nh,nk,nl）的一级衍射来考虑，那么，布拉格方程可改写为： 2（dhkl/n）sinθ=λ  根据晶面指数的定义，指数为（nh,nk,nl）的晶面是与（hkl）面平行，面间距为dhkl/n的晶面族，故布拉格方程又可写作： 2dnh,nk,nlsinθ=λ 指数（nh,nk,nl）称为衍射指标，可用（HKL）来表示。应用衍射指标，布拉格方程可简化为： 2dsinθ= λ 上式即为布拉格方程通用式。 讨论 对于各级衍射，由布拉格方程可知： sinθ1=λ/2d ， sinθ2=λ/d ，sinθ3=3λ/2d ，…，sinθn=nλ/2d 从布拉格方程的通用公式可知：入射X射线的波长满足 λ≦2d 入射X射线照射到晶体才有可能发生衍射，显然，X线的波长应与晶格常数接近，一般用于衍射分析的X射线的波长为0.25-5.0nm 2.2 X射线衍射原理 2.2.2 结构因子F 和衍射消光规律---充分条件 物理意义就是一个晶胞向由衍射矢量S规定的方向散射的振幅等于F(S)个电子处在晶胞原点这同一方向散射的总振幅。 衍射过程中，根据布喇格方程及倒易点阵与衍射的关 系，可得发生hkl反射时结构因子为： 式中|Fs|为晶体点阵中各结点的结构振幅，|Fc| 为晶胞的结构振幅。由上式可知，|Fs|2=0或|Fc|2=0均可使|F(hkl)|2=0，从而使上式晶体衍射线强度Ic为零，这种满足布喇格方程条件但衍射线强度为零的现象称之为消光 2.2 X射线衍射原理 2.2.3 实验方法及样品制备 最基本的衍射实验方法有：粉末法、劳厄法、转晶法三种 常用粉末衍射仪主要由X射线发生系统、测角及探测控制系统、记数据处理系统三大部分组成 。核心部件是测角仪 粉末衍射仪常见相分析测试图谱（SiO2） 衍射仪所能进行的工作 粉末衍射仪的工作方式 水泥熟料中C3A的X射线衍射谱 曲线拟合法 重心法确定峰位的过程。 样品制备 样品制备注意点： 1）样品颗粒的细度应该严格控制，过粗将导致样品颗粒中能够产生衍射的晶面减少，从而使衍射强度减弱，影响检测的灵敏度；样品颗粒过细，将会破坏晶体结构，同样会影响实验结果。 2）避免颗粒发生定向排列，从而影响实验结果。 3) 防止外加物理或化学因素而影响试样其原有的性质。 2.2 X射线衍射原理 2.2.4 物相定性分析 1. 物相标准衍射图谱（花样）的获取： 1) 1938年，哈那瓦尔特（J.D.Hanawalt）等就开始收集并摄取各种已知物质的衍射花样，并将这些衍射数据进行科学分析整理，并分类。 PDF卡片 粉末衍射卡片索引及检索方法 哈那瓦尔特（Hanawalt）索引 芬克（Fink）索引 （1）用粉末衍射仪法获取被测试样的衍射