有限厚势垒变纤锌矿allt;,xgt;galt;,1-xgt;ngan异质结中电子迁移率及其压力效应.pdfVIP

有限厚势垒应变纤锌矿AlxGal．xN／GaN异质结中 电子迁移率及其压力效应 摘要 本文采用数值自洽计算波函数和求解力平衡方程相结合的方法，在极化光学 电子迁移率问题．考虑有限厚势垒和导带弯曲的实际异质结，计入自发极化和压 电极化产生的内建电场之作用，给出界面及半空间光学声子作用下电子迁移率随 A1组分，势垒厚度及温度变化的数值计算结果． 导作用，而当x0．18，来自沟道区的半空间声子散射则起主导作用．结果还表明： 电子迁移率随势垒厚度增加而增加，且逐步趋于一稳定值．应变和压力效应加剧 电子迁移率随温度增加而降低的趋势． 关键词：电子迁移率， Electron instrainedwurtzite mobility AIxGal．xN／GaN withfinite-thick barriersandits effect pressure