材料微结构透射电子显微像衬度研究.pdfVIP

中文摘 要 透射电子显微镜作为微结构表征的主要手段之一，衍射图记录了 样品倒易空间的信息，可用于确定晶体的晶相、对称性及晶体之间的 取向等；显微图像记录了样品实空间的信息，其衬度可直观揭示材料 微结构信息和空间分布等。透射电子显微图像的衬度主要有振幅衬度 和相位衬度，而振幅衬度又可分为衍射衬度和质厚衬度。衍射衬度反 映的是晶体内部的组织结构特征，对晶体结构的不完整性、缺陷、晶 体的取向等细节非常敏感；质厚衬度反映的是样品的形貌特征，由样 品中不同区域的平均原子序数或样品厚度差异引起；相位衬度是当电 子束穿过非常薄的样品后，电子束的强度基本不发生变化，仅仅是电 子的相位受到周期晶体势场的调制而形成不同的衬度，一定的条件 下，相位衬度可反映晶体点阵甚至是原子的排列。本文介绍了透射电 子显微镜衬度的形成机理及不同衬度的特点；以多晶铜为例，在透射 电镜观察中实现了质厚衬度成像和衍射衬度成像的相互转换，介绍了 其相互转换的原理及实现方法；同时利用高分辨透射电子显微成像对 Tb离子掺杂CeVO。稀土纳米材料的微观结构进行了研究。利用透射电 镜的不同成像衬度模式能够在样品的同一视场中观察到更多的材料 结构细节，可以在多层次和不同尺度上获得更丰富的微结构信息。 关键词：透射电子显微镜；散射；