高消光比测系统中光电倍增管的偏振效应.pdfVIP

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  • 2017-08-29 发布于贵州
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高消光比测系统中光电倍增管的偏振效应.pdf

高消光比测系统中光电倍增管的偏振效应

摘要 摘要 高消光比测试系统对研究晶体材料光学性质,测量光学偏光器件的光学性能和参数具 有不可替代的科学作用,要提高系统的测量精度就必须重视系统的各部分光学性能的研 究。本文《高消光比测试系统中光电倍增管的偏振效应》主要分析研究了系统中光电倍增 管的偏振效应,寻求消除光电倍增管偏振效应的有效途径,补偿其在高精度消光比测量系 统中引起的测量误差。然后将把光电倍增管,数字锁相放大器和计算机等有机的组合,从 而提高了此测试系统的测量精度,建立一套测量速度快、数据处理、采集、操作自动化且 数据处理更为精确和稳定的智能化高消光比测量系统。 激光偏光技术的不断发展,使得偏光器件日益广泛地应用于光纤通信、偏光导航、光 调制、光电检测以及光传感等技术领域。消光比是晶体材料和偏光器件的主要光学参数之 一。消光比测量的精确程度将影响到利用偏光器件对各种光辐射的偏振性质进行测量和鉴 别的检测精度,以及利用偏光器件对其它具有偏光变换性质的光学器件和仪器系统的偏振 响应的检测和分析。因此,偏光器件消光比的精确测定对于现代化信息技术的发展有着十 分重要的意义。消光比测量属于弱光信号光度学测量,其测试方法不同于一般的光度测量。

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