界面构形对子器件电子输运性质的影响.pdfVIP

摘要 摘要 本论文采用密度泛函理论结合非平衡格林函数的方法，研究了由表面重构以 及吸附原子团簇所引起的界面构形对分子器件输运性质的影响。主要内容如下： l、C60分子引起的Cu(111)面的重构对电子输运性质的影响。实验上发现， l 在一定的条件下，C60在Cu(11)面上生长时，会使得4x4的金属表面单胞出现7 个原子空洞的重构结构。对于C60分子和Cu(111)块体构建的分子器件，考虑到 分子一电极接触界面的重构，理论模拟结果发现电导增大了，小偏压范围内电流 是完整表面结构的1．5倍。我们的结果表明界面重构增强了分子器件的导电性能。 2、吸附原子团簇对输运性质的影响。实验上制备分子器件时，尤其在自组 装过程中，电极表面还会出现吸附原子团簇乃至岛状结构等等。我们采用C60分 子与Ni(111)块体电极构建两端体系，研究了两端电极磁矩平行时，随着团簇原 子个数N的增多，自旋电子输运性质的变化。结果表明，同一偏压下，随着N 的增大，电流逐渐增大，其自旋极化度逐渐减小。显然团簇尺寸的大小，对自旋 输运性质具有一定的影响。 万方数据 界面构形对分子器件电子输运性质的影响 万方数据 Abstract functionalcombinedwith Green’S Usingdensity theory non-equilibrium effectofthemetalsurfacereconstructionor the functions，thispaperinvestigates of moleculesonelectron adsorbedclusterinduced C60 transport byadsorption ofmoleculardevices． properties The isthemaincontent： following electron reconstructioninducedon 1．Theeffectsofsurface byC60 transport．In formedwhen hole 1 couldbe C60 per(4x4)Cu(11)cell experiments，a7-atom—missing moleculardevicesconstructed on 1 termsof moleculesCu(11)substrate．In by grow reconstruction