SPC--统计过程控制.ppt

统计过程控制-关注内容 SPC的产生 SPC常用术语解释 持续改进及统计过程控制 控制图 计量型数据控制图 计数型数据控制图 SPC总结 SPC计算软件例举 计量型 计数型 统计过程控制-SPC的产生 工业革命以后， 随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。 1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。 统计过程控制-SPC常用术语解释 统计过程控制-SPC常用术语解释 统计过程控制-SPC常用术语解释 统计过程控制-持续改进及统计 过程控制 过程控制系统 变差原因-普通及特殊原因 过程控制和过程能力 过程改进循环及过程控制 过程控制系统-缺陷预防过程模型 过程控制系统-制造过程变差来源 普通原因： 是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复 的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳定系统 的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时， 过程的输出才可以预测。我们称之为“处于统计控制状态”、 “在统计上受