测试原理介绍.docVIP

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测试原理介绍 目??录% Q, p- t9 H$ o i7 C3 J# s 绪??论? ? ? ? 1 : l V1 O5 d: Z第1章??测试简介? ? ? ? 33 O6 i7 W* O, ^ 1.1 测试的专业术语简介? ? ? ? 3 / W. b g6 h??a; @6 }: W1 w% Z. T% j1.2 测试目的? ? ? ? 3 5 T. ~: G# ]??q3 o6 J9 X6 p1.3 测试的分类? ? ? ? 4 - q/ a9 }4 W3 Y) r3 T1.4 测试原理? ? ? ? 4 0 k S N2 P- j; T+ L: }, F( }% x第2章??测试项目? ? ? ? 81 l) F: o) [- I0 n2 T# ~ l 2.1 各个测试项目的目的? ? ? ? 84 [??~: l* H2 R9 b( K 2.2 各测试项目的测试方法? ? ? ? 89 _0 e) S, C4 s# S* b, e8 i 第3章??测试程序开发与调试? ? ? ? 14/ D/ v0 Y) [+ h, y4 J 3.1 测试机的选择? ? ? ? 14. s p8 _# {( _1 f; i 3.2 测试项目开发? ? ? ? 14 : g! I4 l??I0 A3.3 测试程序的调试? ? ? ? 20 x, e- j/ z0 }3.4 正常测试? ? ? ? 21 0 N1 z2 r( Z% b X第4章??总结? ? ? ? 23/ k??m6 u2 N- a3 M 致??谢? ? ? ? 242 r: u5 H* a- u4 `; m6 ]??\ 参考文献? ? ? ? 25 . m+ q. @( u??V _6 j 2 V5 r ]$ M1 r K8 U6 B/ X* r2 U4 X! \$ g3 W/ f6 t 7 ^$ ^! ~1 q3 J6 F, b) } 绪??论 2 P5 j. V( [9 ]* l3 W当今的电子测试业界,分为两大部分,一是PCB组装测试,一是集成电路测试,如下图所示: * w: z??_8 D- S( P? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ???ICT(In Circuit Tester)/AMD 0 v; @1 t6 A$ T r9 _# M6 I? ?? ?? ?? ?? ?PCB组装测试试? ? ATE(Auto Test Equipment) N \$ ]) g$ d a ? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?Function Test5 E* A% t4 C* d5 l |/ V 电子测试测试- e; c; u# ?! L O$ C1 E1 d6 F( ] ? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?WAT? ?? ?? ?Digit test : c9 e) {! l x, ]1 G* T? ?? ?? ?? ???IC测试测试? ?? ?? ? ???$ p* \9 Q# k4 J; f ? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?Function? ? Mixed test- S2 j6 m??W??m3 v3 D ? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ?? ? Analog test??q( S4 h6 n9 ]7 P, b 随随着PCB组装大规模生产线的出现,使得传统的测试观念发生变化,希望PCB上的问题能在成品前的几道工序就能及时发现并修复,于是从80年代开始,出现了光板测试仪和在线测试仪(ICT ATE),并导入生产制程,使PCB的成品率大大提升。( N5 v??k9 K) r. I! N 1958年德克萨斯仪器公司(TI)研制发明了世界第一块集成电路7400(与非门逻辑电路)以来,便诞生了世界上第一台集成电路测试机,专用于测试自己产品的IN HOUSE TESTER。同样,世界上第一颗颣比(Analog)集成电路是Fairchild公司的运算放大器741,同时,便诞生了世界上第一台颣比集成电路测试机。 / {8 O$ U( q??o/ q+ W+ { L4 g `集成电路测试机已经走过了第一代、第二代,目前正处于第三代的早期,其中每一代测试机的特点及其代表厂家如表0-1所示。 d0 p9 u3 o0 a% j$ W) p??[4 X表0-1 集成电路各代的特点及代表机型6 t2 _+ g! o ]; m 项目? ? ? ? 硬件特点? ? ? ? 软件特点? ? ? ? 代表机型 + ? c: ^* `; `. T# L7 N第一代? ? ? ? ECL电路,体积庞大? ? ? ? Mini

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