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读书报告 学院：电子工程 专业：集成电路设计与集成系统 题目： 《超大规模集成电路测试》读书报告 专 业 班 级：集成2班 姓名（学号）：周宁指 导 教 师：曹贝 一．书籍的基本情况 （1）书名：《超大规模集成电路测试》 （2）出版信息简介：电子工业出版社；2008.06.01 雷邵充 （3）作者简介： 1）雷绍充，1990年毕业留校任教。硕士师从施仁先生， 方向为自动控制专业自动测试技术与装置。博士师从邵志标先生，方向为微电子学专业VLSI设计、测试与可测性设计。 ECC加密算法及硬件实现；VLSI设计、测试与可测性设计；故障诊断；电子电路设计；控制与仪表。 VLSI测试与可测性设计方法学已甄成熟，诸多理论和方法也为设计和制造界广泛接受，亦成为EDA工具的基本特征。本书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。 本书主要内容包括电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，随机测试和伪随机测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SC测试。 第1章 概述 第2章 电路测试基础 第3章 验证、模拟和仿真 第4章 自动测试生成 第5章 专用可测性设计 第6章 扫描设计 第7章 边界扫描法 第8章 随机测试和伪随机测试 第9章 内建自测试 第10章 电流测试 第11章 存储器测试 第12章 SoC测试，测试已成为迫切需要解决的问题，特别是进入深亚微米以及超高集成度发展阶段以来，通过集成各种IP核，系统级芯片SoC（System—on—Chip）的功能更加强大，但也带来了一系列设计和测试的问题。例如，来自计算机、RF器件、消费电子产品和因特网基础设施市场的需求，迫使集成电路厂家必须提供完整的方案，同时解决测试系统在性能和测试效率方面的问题。