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芯片测试系统建议书 Agilent Technologies 2011.12 目 录 第一部分：芯片测试系统的必要性 第二部分：芯片测试系统的构成与功能 第三部分：芯片测试系统的可性能分析 第四部分：芯片测试系统配置  第一部分：芯片测试系统的必要性 集成电路将单一或多种功能的电路模块集成于一块芯片内。早期 集成电路受到半导体工艺水平的限制，难以制造高质量的无源器件和高频器件，因此射频和微波集成电路发展缓慢。近年来，随着半导体工艺所支持的频率不断提高，集成射频电路模块变得可能。和传统的射频电路模块相比，射频集成电路的功能完全相同，但是具有更小的体积、更低的成本、更低的功耗和更高的可靠性。