光通信用雪崩光电二极管_APD_频率响应特性及研究.pdfVIP

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物理学报 Acta Phys. Sin. Vol. 60 ,No. 7 (2011) 072902 光通信用雪崩光电二极管(APD)频率响应特性研究* 莫秋燕 赵彦立 ( , , 430074 ) 华中科技大学光电子科学与工程学院 武汉光电国家实验室 武汉 (20 10 4 20 ;20 10 9 2 ) 年 月 日收到 年 月 日收到修改稿 、 (SACM-APD ), InP / InGaAs 、InAlAs / InGaAs Si / Ge 吸收层 电荷层和倍增层分离结构雪崩光电二极管 包括 和 APD . , 、 是光通信领域近年来研究的热点 本文基于电路模型 系统比较了不同外延层厚度 不同材料以及不同结构 APD , Si / Ge APD 、 、 , 的频率响应特性 重点探讨 吸收层厚度 光敏面大小 寄生参数等各项参数对带宽的影响 仿真结 . SACM-APD . 果与实际器件实验数据相符合 本文的研究成果对 的优化设计具有指导意义 :SACM-APD , , 关键词 电路模型 频率响应 PACS :29 . 40 . Cs ,42 . 79 . Sz ,42 . 79 . - e [7— 15] , 频率响应的电路模型研究已经有很多报道 但 [16 ,17] 对Si / Ge APD 的电路模型研究尚不充分 . 本文 , Si / Ge SACM-APD 1. 引 言 在已有工作的基础上 导出了 频率 , 、 响应的电路模型 系统研究了正入射 波导型和谐振

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