一种基于vera的验证大规模芯片的方法.pdfVIP

维普资讯 半导体 摘 要．本文对大规模芯片的验证方法进行了研究．在本文中结合实际项 目开发介 绍了一种基干VERA 的验证平台，这种验证平台可用于大规模数据通信芯片的验证 关键词：验证方法．Vera；验证平食 1 引言 LeveIVe…iIcatIon LaFi口uaqe)， 随着芯片复杂度的上升 验证 VERA有很多特点[31r41．概括起来 异常情况 ．在实际处理时我们采用 工作的复杂度和工作量呈指数上升。 为 ： “直接随机测试 (Direct—Random 实现部分的代码每多一倍，验证的 1、 与硬件描述语言．如 Test 即测试激励的产生不完全随 工作量往往要增加到4倍甚至更大 VeriloQ．VHDL，及c语言紧密结合： 机化 ，依照协议规定．对随机生成的 相对上世纪末几十万门的芯片系统 ， 2、 方便的时钟生成单元和与 测试向量进行一定的筛选 ，保证测 目前动辄上千万门的芯片的验证工 模块信号接 口方式； 试的高效性和完备性 传送接口主 作量已无可避免的成为芯片设计的 3、 支持多进程和测试项 目覆 要完成测试激励的封装．与DUT的 大部分工作。提高验证的效率，需要 盖 的监测 ； 接 1：3，满足不同DUT的接 口时序要 合理选择方法和工具f]1f21。方法 4、 结合C++面向对象的特 求，以及消息队列的生成 如传送接 学：验证复杂度和工作量的急剧上 点，可以方便地实现代码的重用 ： rn1，它一方面将数据送往DUT．另 升．方法学的提高成为必需．解决大 5、 测试激励编写的自动化。 一 方面则根据测试激励 1的实际情 规模ASIC芯片的验证问题．需要对 本文对RTL代码的验证采用分 况生成相应的消息栈，通知另一侧 验证方法学进行研究。验证工具有 模块。分功能，分接口等的多层次验 的监视器2预期白勺DUT状态转换 监 Vera、SPecrnan、TestbuiId、 证策略，换而言之就是对代码每一 视器2则通过侦听DUT的状态变化 。 TelecomWorkbench…．验证语言 个模块都对其功能和接口进行验证。 并与从传送接口1送来的消息比较 ． 有 C ／C ++ 、svstem C 、 如图 1所示 ．对每个模块在其信号 得出DuT是否满足验证要求 监视 systemVerilo#、Tcl／Perl。 流的正反两个方向上进行对称的验 器代替人眼起到一个检错的作用． 本文介绍的验证方法是采用 证 例如．在正方向上．先根据协议 它将根据协议要求．对DUT的处理 SYNOPSYS公司的VERA进行验 要求生成测试激励 1。它要满足达到 结果进行自动地检错一 证。作为一种高级验证语言(Hiqh 验证 目的的各种可能性，包括一些 28 半导体行业 2006／6 维普资讯 设计应用 正向 能把芯片当作一个完整的单元，外 』 围器件只能连接到本芯片的管脚 上，而不可能直接取得芯片内部信 舯L