某公司品质培训教材——P管制图.DOCVIP

p管制图（不良率管制图） 理论计算 不良率管制图之统计理论基础为二项分配，假设制程处于稳定状态，制程中不符合规格的机率为必而且连续生产之各单位是独立的，因此每一生产的单位可以看成是白努利随机变量，其参数为p。假如随机抽取n个样本，D是样本中之不合格品数，则D属于二项分配，其参数为n及p亦即 P{D=x}= x=0, 1, 2, …, n 随机变量D的平均数与变异数分别为np及np(1-p)。样本不良率之定义为：样本中不合格品数目D与样本大小n之比值 随机变数的分配从二项分配得知，因此的平均数与变异数分别是 μ﹦p 假设y为量测品质特性之样本统计量，y之平均数为μy，标准差为δy，则苏华特管制图的一般型式为： UCL＝μy＋kδy 中心线＝μy LCL=μy－kδy 使用条件 由于不良率管制图主要管制制程不合格率必所以也称为p管制图，此管制图虽然是用来管制产品之不合格率，但并非适用于所有之不合格率数据。在使用不良率管制图时，要满足下列条件 发生一件不合格品之机率为固定。 前、后产品为独立。如果一件产品为不合格品之机率，是根据前面产品是否为不合格品来决定，则不适合使用p管制图。 如果不合格品有群聚现象时，也不适用p管制图。此问题通常是发生在产品是以组或群之方式制造。例如在制造橡胶产品之化学制程中，如果烤箱之温度设定不正确，则当时所生产之整批产品将具有相当高之不合格率。如果一产品被