CuTi3SiC2真空触头材料的制备和电接触性能的研究.pdf

中文摘要 触头是在电路控制系统中具有广泛应用的真空开关的核心部件，其性能直接影 响电路系统工作的可靠性与稳定性。目前制备真空接触器触头的材料主要是 求，现有触头材料都存在着一定的不足，因此研制开发综合性能更高的新型真空 触头材料具有非常重要的现实意义。Ti3SiC2是近年来受到广泛重视的一种新型三 元层状碳化物材料，与目前触头材料中常用的增强相碳化钨相比，其电阻率相当， 热导率和熔点更高，模量和热膨胀系数更接近于金属，比重更轻，同时具有良好 的自润滑性和抗氧化性。因而将Ti3siC2与Cu进行复合，有望得到一种新型的高 性能触头材料。 的复合材料。通过密度、导电性、抗弯强度等性能测试，XRD分析、SEM分析， 研究了烧结温度、保温时间、材料组成对材料性能的影响，探索出制备Cu／Ti3SiC2 复合材料的较佳工艺。应用相应工艺，制备了三种Cu／Ti3SiC2真空触头并将其加工 成真空灭弧室，测试并研究了三种材料的截流值、分断能力、耐压值、抗烧蚀等 电接触性能。 120min低于或高于此值，材料性能都有不同程度的降低；采用压力30MPa、烧结 等工艺，可获得电阻率低于0．18微欧米，强度高于1100Mpa且韧性好的触头材料。 电接触性能试验结果表明， 性能好于现有的Cu．W触头，随着铜含量的增加，平均截流值增大；与Cu—W触 头相比，Cu／Ti3SiC2触头分断能力较高，抗烧蚀性能优异。 关键词：Cu／Ti3SiC2复合材料，粉末冶金，电阻率，截流值，分断能力 分类号：TB333 j匕立交适太堂亟±堂僮!金塞 △旦S工＆△￡! ABSTRACT of contactdevice intheelectriccircuitcontrol Ascore vacuum applied system part ofthevacuumcontact influence reliability, widely，Theperformance immediately contactdevice，the ofconduction inthevacuum commonly stability system．Atpresent donotmeetneeds，thereforethe for used orW-Cu higher WC．Ag、WC-Cu development newvacuumcontactmaterialhasthe vital significance．The qualified very practical hasbeen more asnew Ti3SiC2 enlphasize compound temarycompound lay withWCwhichis usedastheenhancementofthe materials．Comparedcommonly part thermal contact hassimilarelectricalresistance