4 数据检测电路程设计.docVIP

4 数据检测电路程序设计 4.1 检测系统总程序 图4.1 检测系统总程序 检测系统中采用89C52单片机作为核心芯片。程序有初始化、键盘扫描、数据采集处理和发送数据模块，主程序流程如图4.1。 其中部分初始化程序为： #includereg52.h sbit int1=P3^3;//定义管脚功能 sbit cs=P3^1; sbit wr=P3^6; sbit rd=P3^7; unsigned char num=0; unsigned int nn=0; int tt=0x0000;//存储器初地址 unsigned char xdata *data pstr; unsigned char adc0804(void);//定义AD void 25lc640_write(unsigned char temp)//存储 void Delayms(unsigned int t)//延时 4.2 采集模块流程及子程序 采集系统的功能描述：采集传感器模拟信号并进行处理，是系统功能实现的关键。子程序流程图如图4.2所示。 图4.2 采集系统子程序 其中将A/D采集到的数据应及时送入HM628128中，采集及存储的部分程序，如下：AD采集子程序： unsigned char adc0804(void)//读AD0804子程序 { unsigned char addata,i; rd=1; wr=1; int1=1;//读ADC0804前准备 P1=0xff;//P1全部置1准备 cs=0; wr=0; wr=1;//启动ADC0804开始测电压 while(int1==1);//查询等待A/D转换完毕产生的INT(低电平有效)信号 rd=0;//开始读转换后数据 i=i; i=i;/延时等待ADC0804读数完毕 addata=P1;//读出的数据赋与addata rd=1; cs=1;//读数完毕 return(addata);//返回最后读出的数据 int1=0;//关ADC0804 } 数据存储的子程序如下： void hm628128_write(unsigned char temp) { *(pstr++)=temp; nn++; } main() { unsigned char k; InitUart(); InitTime(); tt=0x0000; pstr=(unsigned char xdata*)tt; while(1) { if(nn!=64000);//读取64k数据 {k=adc0804(); 25lc640_write();} else {Delayms(65000);/延时65*2s。延时足够时间等待把数据取走后再重新写 Delayms(65000); tt=0x0000; pstr=(unsigned char xdata*)tt;} } } 4.3 串口发送流程及程序 图4.3 串口发送程序 当检测器对管道缺陷检测结束后，单片机上电后，等待从上位机发送的命令，接受到上位机十六进制命令01后，将采集到的数据从SRAM中读出，通过计时器0每隔1ms定时通过向上位机发送数据，并为下一步的数据处理做准备。规定若上位机上接收到的数据为0的时间超过20秒，则上位机发送命令02，停止串口发送。其串口发送程序流程图如图 4.3 所示。从存储器读取数据，转化成十进制后，串口发送的部分程序如下。其中，串口初始化程序为： unsigned char flag_uart,flag_on,flag_time,t0,AA_OCT,AA_DEC; void Inituart(void) { SM0=0;//设置串口为工作方式1：SM0=0，SM1=1，8位异步收发波特率可变 SM1=1; REN=1;//串行口接收允许 TMOD=0x20;//定时器1工作方式2，8位常数自动重新装载 TH1=0xfd;//波特率设初值计算。初值X=(256) TL1=0xfd;//设置波特率为9600。晶振频率TR1=1;//定时器T1开始工作，TR1=0，T1停止工作 读取存储器内数据，转化为十进制并从串口发送： void hm628128_read(void) {tt=0x0000; pstr=(unsigned char xdata*)tt; while(nn!=64000);//读取64k数据 {nn++; if(flag_uart==1) flag_uart=0; ES=0; TI=1; switch(flag_on)//判断上位机发送命令标志，flag_on为0时串口发送，为1时停止发送 {case 0:TR0=1;//启动定时器0，定时发送 break; case 1:TR