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NoC测试端口选择方法与Dmesh结构研究 摘要 随着片上系统(SoC)的集成度将越来越高，数以百计的十亿级晶体管的 核将集成在一个片子上。这样的片上系统要求模块间的通讯带宽须达到Gbits／s， 并且为了满足快速投放市场的需求还须具有可重用性。传统的总线结构面临这 两方面的挑战越来越严峻。为了解决这些问题，有人提出了一种新的结构，称 为片上网络NoC(Networkon Switching Chip)，提出用集成交换网络(Integrated Networks)来连接片上系统中的核，从体系结构上彻底解决了总线架构难以克 服的问题。NoC不仅具有良好的空间可扩展性，还提供了很好的并行通讯能力， 势必将成为替代总线通讯方式的一种理想的解决方案。NoC以分组交换作为基 AsynchronousLocally 本通讯技术，采用全局异步．局部同步GALS(Globally Synchronous)的通讯机制，每一个资源节点都工作在自己的时钟域，而不同的 资源节点之间则通过通讯节点进行异步通讯，从而很好地解决了单一时钟同步 的问题。片上网络满足了未来片上系统的两大重要需求：可重用性和带宽。随 着片上系统的设计越来越复杂，片上网络将是下一代片上系统首选的结构。 本论文主要的工作有： (1)主要介绍了NoC的测试和拓扑结构。随着芯片集成度越来越高，片上 系统测试的重要性日趋重要；而拓扑结构从根本上决定了NoC的诸多方面性 能。对这两方面的研究很有必要。 (2)提出了一种NoC测试端121位置和数量的优化选取的方法，它在系统功 耗限制的条件下，确定input／output端口的对数，以所有核测试路径总和最短为 目标，优化选取NoC测试端口的最佳位置。本方案在测试功耗不超过系统允 许的最大功耗条件下，最大限度地选取测试端口的对数来进行并行测试，从而 能高效地完成对核的测试，同时又能有效地避免因测试带来的器件损坏。实验 结果表明这种方法提高了测试效率，降低了NoC的总体测试代价。 (3)对二维网格进行了改进，提出了对角互连的DMesh结构和结合二维环 路由算法。在经典的XY确定性路由算法上增加了对角方向的路由选择。从而 节省网络节点间的路由路径长度，且路径更加多样。通过实验模拟路由过程验 证得出本文提出的DMesh结构和TDMesh结构很好的达到了预期的目的。 关键词：片上系统 片上网络 拓扑结构 路由算法 测试 NoC methodandresearchofDmesh test portsselecting topology ABSTRACT from dozenstohundredsof Future several integrate Systems-on-Chip(SoCs)will cores moreandmore ina billion the ofSoCsbecome single transistorchip，asintegration withseveraldozensof will communications compressional．Suchrequire templates systems Gbit／sof mustbereu