《关于片状独石陶瓷电容器的静电容量和介质损耗角正切的测量.》.pdf

关于片状独石陶瓷电容器的 静电容量和介质损耗角正切的测量 1．前言 2 2．片状独石陶瓷电容器的特性 2 2 －1．温度特性 2 2 －2．电压特性 3 2 －3．频率特性 5 2 －4．总结 6 3．LCR 仪表和测试夹具 6 3－1．LCR 仪表 6 3－2．测试夹具 7 4．LCR 仪表的测量原理 7 4－1．测量原理 8 4－2．测量电压 8 4－3．静电容量的测量电路模式 9 5．根据LCR 仪表4284A 的静电容量的测量方法 10 5－1．接通LCR 仪表的电源 10 5－2．已安装测试夹具的状态 10 5－3．测量器的设定 10 5－4．校正 14 5－5．测量 15 6．根据LCR 仪表4278A 的静电容量的测量方法 15 6－1．LCR 仪表的电源接通 15 6－2．已安装测试夹具的状态 15 6－3．测量器的设定 15 6－4．校正 16 6－5．测量 17 7．后记 18 TD.No.C10 1．前言 用 LCR 仪表测量高诱电率型(B 特性，F 特性)的片状独石陶瓷电容器时，有时不能获得与标称 静电容量值一样的值。 其主要原因是，第一：片状独石陶瓷电容器的 B、F 特性的静电容量和介质损耗角正切，虽然 随温度、电压(AC、DC)及频率而改变，但却无法按照规定的条件而测量。第二：测量装置的 设定不符合或测量装置的功能不能满足规定条件。 其解决方法是，第一：理解片状独石陶瓷电容器的特性，要规定温度、电压(AC、DC)、频率3 种条件以后测量。实际上，已经规定在国家标准JISC5101－1－1998的静电容量(4.7项)及介 质损耗角正切(4.8项)上，其高诱电率型电容器的静电容量和介质损耗角正切的测量条件如表 1所示。此时的测量温度为20℃。 表 1 测量条件 标称静电容量 测量频率 测量电压 C≤10μF(10V以上) 1±0.1kHz 1.0±0.2Vrms C≤10μF(6.3V以下) 1±0.1kHz 0.5±0.1Vrms C10μF 120±24Hz 0.5±0.1Vrms 第二：要充分理解测量装置的功能，确认是否满足表 1的测量条件以后请使用测量装置。 首先，叙述影响静电容量和介质损耗角正切的片状独石陶瓷电容器的特性。随后，叙述实际 使用的LCR仪表及测量原理，最后，举例说明片状独石陶瓷电容器的静电容量和介质损耗角正 切的准确的测量方法。 2．片状独石陶瓷电容器的特性 片状独石陶瓷电容器虽然具有小型、高可靠性、低阻抗、无极性等特点，但是却存在温度随 静电容量而变化、及电压随静电容量所变化等的缺点。 下面，以片状独石陶瓷电容器3216尺寸的10μFB特性和F特性为例，说明影响静电容量和介质 损耗角正切测量的各种特性。 2－1．温度特性 图 1 表示片状独石陶瓷电容器 B、F特性的温度特性。 测量条件为1kHz，1Vrms中，B特性时，根据温度此静电容量的变化率最大也在±10%之内，与 之相反，F特性时，在+30%/－80%以内。并且，介质损耗角正切也根据温度而改变，温度降低 的话B、F特性的介质损耗角正切也增大。 3216 尺寸 率 化 变 量 容 电 静 [ % ] 温度[℃] (a)静电容量变化率 3216 尺寸 温度[℃]