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中文摘要
之后(400nm以上),IZO薄膜结构和电学特性趋于稳定。
面生长,使ZnO薄膜由未掺杂时的六角片状向三角块状转变。hl的掺入亦能有
效提高ZnO薄膜的载流子迁移率,从而降低薄膜的电阻率。深入分析了采用USP
法制备三角形绒面表面形貌的IZO薄膜需要(101)晶面取向的晶体结构要求。
为USP法制备具有绒面形貌ZnO.TCO提供了指导性实验结论。当hl掺杂量为
1.5at.%时可获得较低电阻率的IZO薄膜,其电阻率为2.48X10一Q·gin。制备的
IZO薄膜的总透过率均达到80%。将其作为前电极与FTO作对比,应用于硅薄
膜太阳电池中,在无ZnO做复合背反射层的条件下,微晶硅电池效率5.01%;
Sn02:F(FTO)上获得的微晶硅电池特
明显优于在日本ASAHI公司生产U.type
性。
第三,从表面形貌和电学特性两方面对IZO薄膜特性进行改善。采用低成
2000玻璃的化学方法,改善衬底表面形貌,并增加粗糙度。
本的HF腐蚀eagle
以此改善IZO薄膜绒面形貌,增强对入射光的散射作用。提出IZO/AZO和
采用溅射法生长AZO薄膜,形成IZO/AZO复合膜。该复合膜具有圆锥形绒面
形貌,对入射光有较强的散射能力;同时仍具AZO低电阻率的特点。在eagle2000
复合膜。利用IWO薄膜高迁移率、低电阻率的特点,制备出具有较高迁移率(约
50
貌,对入射光有较强的散射作用。为制备较低电阻率、良好绒面形貌复合透明
导电薄膜提供了实验参考。
通过对不同结构双层膜的研究,得出双层膜的表面形貌主要依赖于基础层,
表征层对双层膜电学特性具有重要影响。另外,优良双层膜特性需足够厚的基
础层以提供良好的晶粒基础(约400nm),但过厚的基础层(约600nm)会降
低双层膜的透过率。生长基础层之后的降温过程可为基础层提供一个完整的成
膜过程,使每一层IZO薄膜保有各自的特性,有利于实现对双层薄膜特性的调
控。将具有良好电学特性和绒面形貌的双层IZO薄膜应用于非晶硅薄膜太阳电
Sn02:F相近的电池特性。
池中,获得了与日本的ASAHIU.type
Ⅱ
中文摘要
掺杂;太阳电池
IlI
中文摘要
IV
Abstract
Abstract
ZnO conductiveoxide texturedsurface has
transparent ffco)with morphology
beenthe anodematerialsforsiliconthinfilmsolarcells.The
importanttransparent
mainfabricationmethodsofZnO—TCOwithtexturedsurface are
morphology
themare cost
and of
MOCVD.However,bothhigh methods.Therefore,
sputtering
lowcostmethodfor ZnO-TCO、Ⅳimtexturedsurface for
preparing morpholo
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