低温气体放电现象的数值的研究.pdf

摘要 气体放电是--f]古老又年轻的学科，它本身包含有丰富的非线性现象，近年来受到 广泛的重视。本文在多组分流体层次上进行数值模拟计算，主要研究以下四个方面的 问题： 1．气体放电中的各种等离子体鞘层。在数值研究中发现，表面电场变化敏感是引起 阴极鞘层方程刚性较大的原因，而考虑符合实际情况的柱状阴极位形则可减小这 种边界敏感性。热电子发射阴极鞘中既含有热电子又存在束电子，研究表明，这 种新形式下的玻姆判据，要求从等离子体区进入鞘层的临界离子速度不仅仅要大 于声速，而且随束电子所占成分增加而增大：而此时的朗谬尔判据，与经典情形 相比较，离子流密度的最低阈值降低了，它不仅同电子流密度有关，还与鞘层形 状及表面电场强度相关。数值模型还分别给出了阴极鞘以及电双鞘的表面电场强 度随鞘层所加电压和鞘边界离子密度的变化关系；研究结果明确指出，形成电双 鞘所需离子流密度闽值要较阴极鞘为低。在对阳极鞘的讨论中，我们给出了正电 性与负电性两种不同阳极鞘的数值解，指出阳极鞘会因相异的放电装置与放电模 式而颇有不同。 2．气体放电中的四种常见模式。本文系统地用流体模型，数值描述了气体放电中的 四种常见模式，对每一种模式，都就具体的装置分析了电子和离子在不同区域的 行为，讨论了电子与离子的产生与损耗这一对矛盾体，给出了气体放电性质随各 种放电参数的变化，得到了相应的伏安曲线，揭示了相同放电电压导致不同放电 电流的原因。在数值研究中，我们还辩识挑选出影响放电性质的重要因素，引入 了两种相互独立的电子成分一一束电子与热电子。并经过多次计算调试得知，柬 电子与热电子的密度之比是影响气体放电性质的一个重要参量。数值模型给出与 实验相符合的结果，验证了本数值模型的合理性与准确性。这部分工作是本文的 基础部分。 3．放电模式的相互转化。 ·文中给出了气体击穿的时序演化过程，并将之分为两个阶段，其一是虚阴极势 阱中积累部分离子，形成电位平缓的等离子体区，并逐渐向阳极扩张：其二是 离子密度积累到一定程度，造成等离子体电位的抬升，最终降低虚阴极势阱的 深度，带来电流的迅猛增长。总结出气体击穿的关键因素就是离子的生成与损 失的竞争过程：理论分析给出了气体击穿的阀值电压，它是中性气体压强与板 间距乘积的平方项的函数。 ·通过讨论阴极鞘层的稳定性，由％一M曲线给出温度限制模放电熄灭的临界 电压。 ·通过探讨朗谬尔模的稳定性，得到了其至温度限制模和阳极辉光模的突变阈 值。透过多稳表现形式不一的表象，指出其本质均为各稳态放电模式所决定， 其复杂性仅在于各种放电模式稳定区域的不同而已。 ·综合模式转化的四个突变阈值，本文首次提出，四个突变阈值相互位置的变更 就是形成多种多稳结构的根本原因，它会带来双稳态、三稳态以及双双稳态这 些各异的放电形式，从而合理、统一地解释了多稳态现象，并与实验相吻合。 ·将温度限制模和朗谬尔模中表面电场强度随离子密度的变化关系图绘制在一 起，可以得到一条S型曲线。研究指出，放电模式的突变现象正发生在该曲线 的拐点处，拉近了唯象的突变理论与具体的物理实验的距离。 4低温直流气体放电中的四种自振荡现象。本文首次在统一的高度上，全面地研究 了现有实验中发现的四种自振荡现象，合理地给出了相应的物理解释。研究结果 表明，除了lv类自振荡是由热电子温度驱动外，I、II及III类振荡均同阴极鞘 层的不稳定性密切相关。文中指出，带电粒子的产生与损失这一对矛盾，是激发 自持振荡出现的原因。I、II及III类振荡均以类朗谬尔模为中间层，如：I类振 荡是在类朗谬尔模与类温度限制模间来回跃变：II类振荡是在类温度限制模、类 朗谬尔模以及类阳极辉光模间跃迁；III类振荡则是间于类朗谬尔模与类阳极辉光 模之间的振荡过程。在IV类振荡中，自持振荡的发生是由欧姆加热羽1扩散降温相 互竞争、电离碰撞和粒子扩散相互竞争导致的。I、II类自振荡出现的电压阂值 随中性气体密度的增加而降低，随阴极灯丝温度的增加而降低，振荡频率则主要 受等离子体耗散时间的影响。 关键词：气体放电，数值模拟，等离子体，鞘层，模式转换，突