X射线衍射研究纳米材料微结构的一些进展(pdf 34页).pdfVIP

　第 28 卷 第 3 期 物 　理 　学 　进 　展 Vol . 28 No . 3 　 　2008 年 9 月 PRO GR ESS IN P H YSICS Sep . 2008 　 文章编号 (2008) 0328034 X 射线衍射研究纳米材料微结构的一些进展 杨传铮 ,张 　建 ( 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 ,上海 200050) ( ) ( 摘要 : 　本文在简单评叙过去常用于金属材料中晶粒 嵌镶块 大小和微观应变的 X 射线衍射线形分析方法 分离 ) 微晶—微应变二重宽化效应的 Fourier 分析 、方差分析和近似函数三种方法 之后 ,介绍了作者及合作者近年来发 展和建立的分离微晶 —微应变 、微晶—层错 、微应变 —层错二重宽化效应和分离微晶—微应力 —层错三重宽化效 应的一般理论 、最小二乘方法和计算程序系列 。然后把这些方法用于评价各种典型纳米材料微结构的研究 。它们 ( ) ( ) ( ) 包括 : 1 贮氢合金 MmB5 ; 2 面心立方结构纳米 NiO 的分析 ,获得微结构参数与热分解温度的关系 ; 3 体心立方 ( ) β ( ) 结构的 VTi 基合金在吸放氢过程中的结构变化 ; 4 用来研究镍氢电池活化前后正极 Ni O H 2 的微结构时 ,对 β ( ) ( ) 一般方法作简化 ,从而了解了 Ni O H 2 在镍氢电池中充放电过程和电池循环过程中的行为 ; 5 六方纳米 ZnO ( ) ( ) 的微结构研究和添加 Ca 、Sr 和混合稀土的 MgAl 合金中的微结构研究 ; 6 还用于六方 2 H 石墨堆垛无序度的 测定 。 实际应用发现 ,对不同的纳米材料合理应用分离 X 射线衍射多重宽化效应的一般理论和方法显得十分重要 。 实际应用还发现 ,所提出的分离多重宽化效应的方法 ,能用于评价和研究纳米材料及其在使用过程微结构的 变化 ,从而把材料性能与微结构参数联系起来 ,建立性能与结构之间的关系 ,并已获得不少有益结果 。 ( ) 关键词 :纳米材料 ;微结构 ;微晶形状和大小 ;微应变 力 ;堆垛层错 ;XRD ;最小二乘方法 ;计算程序 中图分类号 : T G115 . 23 　文献标识码 :A 0 　引言 ( ) 在多晶材料 X 射线衍射分析中 ,如果样品的晶粒很小 ,存在微 残余 应力或堆垛层错时 ,都会引起衍射