低能nlt;#39;+gt;离子束诱变的机理研究：突变谱分析.pdfVIP

摘要 本文总结了国内外对低能离子束的作用机制、介导微生物遗传转化、诱变植物和微 能氮离子诱变的突变谱进行了研究。 该突变体因purr的超阻遏作用而使与purD融合的lacZ基因表达受到高度阻遏， 导致突变体细胞在以乳糖为唯一碳源补加限量腺嘌呤的NCE培养基上不能生长形成菌 落，但反式调节基因purr或结构基因purD的顺式调节元件PURbox发生突变均可解 除purr5的超阻遏状态，使细胞可利用乳糖生长(1ac+)。本论文采用该系统筛选离子束 处理后产生的突变体，并进行突变体分析。 菌液培养至对数期，经无菌风干燥，在真空条件下，注入能量为15keV，剂量为 110(x2．6x PUR 20个PURbox突变体的目的片段进行克隆、核苷酸序列测定和突交谱分析，并与其它突 变形式对比，得出以下初步结果： ①以无菌水为悬浮液的菌膜在超净工作台完全干燥的时间为35’，此时的干燥存活 率为9．7％。整个注入实验(干燥十真空+注入)历时约55’此时的存活率为O．85％。真 空致死率小于50％，剂量为110时注入存活率在20．6％～45．2％之间。诱发突变率为自 发突变率的7．0～9．3倍，接近一个数量级。 ②诱发突变所得的purR突变体与PURbox突变体的比例为0．8：0．2。 ④低能离子束诱变的PURbox突变谱：诱发突变体全部是碱基替代，发生在8个保 为0．15。有～个突变热点，热点突变占总数比例为O．75。诱发突变谱较窄，突变热点更 为集中，因此推测引发突变的主要因素较为单～。 ④诱发突变谱中减基颠换比例是0．85，且是全部G：C—T：A颠换，推测低能离子束 诱变鼠伤寒沙门氏菌得分子机制可能为： 离子注入一通过破坏细胞表面进入内部一刺激产生大量自由基一自由基氧化损伤 致G：C—T：A颠换。 ④推测诱发突变中碱基转换发生的机制是：离子束注入损伤细胞，导致甲基介导的 关键词低能氮离子束诱变 鼠伤寒沙门氏菌 类超阻遏突变体PURbox 突变谱 自由基 。= ：：： ：：：=：童!!堑!!查兰些圭兰堡鎏圣 ：： ：：： ：=：=：： Abstract BaseOnthe of 0n studies mutagenic summarizing mechanisms，gene industrialmicrobes withlow ion salmonella strain breeding energybeam，a typhimurium a mutantof usedasall for carrying purR(purR3)WaS super—repressed experimentalsystem mutationmechanismscausedlow NTionbeam study by energy implantation． P“埔encodesa of repressorproteincontrollingexpressionpurinebiosyntheticgenes． the of／ac fusedwith was Because expressiongenes purDhighlyrepressedbysuper·repressor kind mutantscarl．’t ontheNeE withlactoseaSsolecarbon ofpurR．耵lisofpwR3 grow plate