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非火焰原子化,石墨炉原子化器: 经过干燥→灰化→原子化→净化。 电热原子化的特点:试样用量少、灵敏度高;蒸发除去了基体,减少或消除了基体效应;试样可以是溶液,也可以是粉末。 石墨炉原子化器由电源、石墨管炉、保护气系统、冷却系统等四部分组成。 电源能使石墨管迅速加热升温(可以进行程序梯度升温)。最高温度可达3000K。 石墨管长约50mm,外径约9mm,内径约6mm,管中央有一个小孔,用以加入试样。 光源发出的辐射线从石墨管的中间通过,管的两端与电源连接,并通过绝缘材料与保护气系统结合为完整的炉体。 保护气通常使用惰性气体Ar。进样后,外气路中的Ar气从管两端流向管中心,由管中心流出,以除去在干燥和挥发过程中的溶剂、基体蒸气,同时也是保护已原子化了的原子不再被氧化。在原子化阶段,停止通气,以延长原子在吸收区内的平均停留时间,避免对原子蒸气的稀释作用。 冷却水通过石墨炉炉体四周,以保护炉体。 程序升温石墨炉原子化器中试样的物理化学过程 试样以溶液(一般为1~50ul)或固体(一般几mg)从进样孔加到石墨管中,其过程分为四个阶段,即干燥、灰化、原子化和高温除残。 干燥 干燥的目的主要是除去溶剂,以避免溶剂存在时导致灰化和原子化过程飞溅。干燥的温度一般稍高于溶剂的沸点,如水溶液一般控制在105oC。 灰化 灰化的目的是为尽可能除去易挥发的基体和有机物,这个过程相当于化学处理,不仅减少了可能发生干扰的物质,而且对被测物质也起到富集的作用。灰化的温度及时间一般要通过实践选择。 原子化原子化是使试样解离为中心原子。原子化的温度随被测元素的不同而异,原子化时间也不尽相同,通过实验选择。一般温度可达2500~3000oC之间,时间为3~10秒。在原子化过程中,应停止Ar气通过,以延长原子在石墨炉管中的平均停留时间。 除残 也称净化,它是在一个样品测定结束后,把温度提高,并保持一段时间,以除去石墨管中的残留物,净化石墨管,减少因样品残留所产生的记忆效应。 3.单色器 作用是将所需的共振吸收线与邻近干扰线分离。 其关键部位是色散元件,现多用光栅。 4.检测系统 主要由检测器、放大器、对数变换器、显示装置所组成 12.3.1. 标准曲线法 对照品溶液的组成应尽可能接近实际试样的组成; 所配试样浓度应在校正曲线的浓度范围内,并使A在0.2~0.7之间; 所有操作条件(光源、单色器等)在整个分析过程中应保持不变; 每次测定前应用对照品溶液对吸光度进行检查和校正。 §12.3 定量分析方法 12.3.2. 标准加入法:。 通常采用多点作图法求出加标样品的吸收曲线Ao=k(Cx+C0),将其外推至A0=0,该吸收曲线与横轴的交点坐标即是待测元素的浓度Cx 的负数(-Cx)。 本方法可消除基体效应;斜率小时误差大。 设未加标样品中待测元素的浓度是Cx,吸光度是Ax;加标后样品中加入的待测元素的浓度是C0,吸光度是A0,则有: Ax=kCx; Ao=k(Cx+C0); 12.3.3. 内标法: 分析线/内标线 优点:消除气体流量、进样量、火焰湿度、样品雾化率、溶液粘度以及表面张力等的影响,适于双波道和多波道的AAS。 §12.4 实验技术 12.4.1、样品处理 取样要有代表性,防止污染,避免被测元素的损失; 试样与标准溶液的含盐量要相同,同时注意试剂的纯度; 对样品要进行适当预处理:无机固体样品的溶解;有机固体样品的消化,消化后残留物的溶解….。 12.4.2、测定条件的选择 1.分析线:通常选择共振吸收线作为分析线,但也要具体情况具体分析。如: 当共振吸收线位于远紫外区时,火焰吸收 严重,不宜选用; 共振吸收线受到其它谱线的干扰时,不宜选用; 高浓度试样——选择低灵敏度谱线; 微量元素——最强共振吸收线。 2.原子化条件的选择 在火焰原子化法中,火焰类型的选择和火焰高度的调节; 在石墨炉原子化法中,干燥、灰化和原子化温度的设置; 12.4.3、干扰及其抑制 1.电离干扰 高温导致原子电离→基态原子数↓→吸光度下降→测定结果偏低 消除:加入消电离剂(主要为碱金属元素),产生大量离子,从而抑制待测原子的电离。如大量KCl 的加入可抑制Ca的电离: KCl + Ca2+→ Ca + K + 2.物理干扰 样品物理特性(粘度,表面张力)的变化→A↓ 非选择性干扰——对样品中各元素影响基本上相似; 消除:配制与被测试样组成相近的对照品或采用标准加入法 3.光学干扰(选修) 光谱线干扰: 干扰元素的吸收与共振吸收线重叠,A↑→另选波长; 共振线旁有一条非吸收线,它们一块到达接收器,A↓→ 减小狭
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