多通道高精度集电路直流参数测试.pdfVIP

摘要 摘要 集成电路是当今三大信息产业之一，集成电路的飞速发展必然带动集成电路 测试装置的不断更新，从而降低集成电路生产成本，提高IC生产效益。集成电路 测试是保障芯片内部电路质量的主要测试手段，集成电路测试已经受到许多国家 的高度重视，因此研究集成电路测试具有非常重要的实际意义。 论文出于实际应用设计了集成电路测试仪，介绍了多通道集成电路测试板的 设计与研究。本设计主要针对中小规模集成电路的测试。论文首先阐述了课题研 究背景，从实际应用需求角度出发设计了集成电路测试仪。进而对国内外发展情 况进行了详细的分析，探究国内外集成电路测试装置的研发成果，集成电路测试 仪分别有低档中档高档三个档次，不同档次的测试仪的测试对象不相同。国内主 要是中小规模的集成电路测试仪的研发和设计，对于大规模的超大规模的集成电 路测试系统的研究与国外发达国家的技术水平相比差距比较大，国内IC生产企业 对大规模集成电路的测试仍然依靠国外进口测试仪进行测试，大大增加了生产成 本，不利于国内集成电路行业的发展，亟需研究出高速、低功耗、高性价比的集 成电路测试系统，用以改变当前测试系统匮乏的局面。 随着IC器件集成度的不断提高，芯片管脚数目也越来越多，测试速度也要求 越来越高。以往的逐个引脚测试已经不能适应集成电路的高速发展，多个引脚、 多个站点同时测量成为测试系统必须具备的基本功能。本文中设计的多个独立通 四个可编程电流量程，每个通道都包含电压和电流箝位功能，一个窗口比较器用 于T模式测量。提供外部可扩展大电流量程。 设计中采用AD5522的SPI串口进行数据的传输，通过29位控制字控制芯片 对芯片进行逻辑控制，主要设计了SPI串口逻辑、串并转换程序和外部扩展量程 的继电器控制逻辑。对实验数据进行了多次测量分析，进行了芯片内部校准和外 部软件校准，最后得出的测量结果基本达到设计指标。 关键词：集成电路测试，AD5522，多通道 ABSTRACT ABSTRACT three information ICis oneofthe major industry,willinevitablybring currently aboutthe of circuits circuit device developmentintegrated integratedtesting rapid the IC IC costs，increaseproduction． continuouslyupdated，therebyreducingproduction IC isamethodto the ofthecircuit circuit testing protectquality chip，integratedtesting hasbeenattached to theresearchICtesthas countries，SO very greatimportancemany significance． importantpractical Forthe circuit introduce designintegratedtester,then practicalapplication,we