基于MCU的测试系统.pdfVIP

基于MCU的测试系统 1 概述 随着IT产业和通信技术、电子技术、计算机技术的高速发展， 大量的生产装备和产品的电子化、数字化、自动化、智能化的程度 越来越高，与之配套的电子测量设备必须适应这种形势。因此，综 合测量技术、电子技术、自动化技术和计算机技术于一体的自动测 试系统发展日益完善，在一些高度电子化产品、航空航天和军用武 器装备中以及工业自动化、通信、光学、能源等诸多领域中得到了 广泛应用。 一般意义的自动测试系统是指采用计算机控制，能 实现自动化测试的系统。这类系统通常是在标准的测控总线或仪器 总线(CAMAC、GPIB、VXI、PXI、CAN等)的基础上组建而成的。 目前，通用串行总线(UniversalSerialBus，即USB)以其方便的即插 即用和热插拔特性及较高的传输速率，成为PC 机领域广为应用的 外设连接规范。本文介绍的自动测试诊断系统是以五片 P89C668 单片机为核心组成故障诊断平台，采用基于FT245BMUSB芯片的 通信卡建立计算机与测试诊断平台通信的桥梁，使其能对需要检测 的组合逻辑数字电路板进行测试，并可以根据标准诊断数据库对产 生故障的电路板进行自动故障定位。目前该系统能够对多种不含有 不受控制的部件如CPU、存储元件、晶振、阻容式单稳态等的数字 电路板进行自动测试及故障诊断，可测试的