机电控制系统的校正.docVIP

实验报告 实验名称： 机电控制系统的校正 实验目的： 通过本次实验，加深理解控制系统反馈校正的概念，掌握改善机电控制系统性能的基本方法和工程实现，对给定系统进行串联校正设计，并通过模拟实验检验设计的正确性，从而学会控制系统的串联校正与反馈校正。 实验内容： 1、串联超前校正 2、串联滞后校正 3、串联超前—滞后校正，校正前与校正后的阶跃响应实验。 实验原理： 1、串联超前校正 系统模拟电路图如图所示，图中开关S断开对应未校情况，接通对应超前校正。 图3-1 超前校正电路图 系统结构图如图3-2 图3-2 超前校正系统结构图 图中 Gc1（s）=3 2（0.055s+1） Gc2（s）= 0.005s+1 实验方法与步骤： ① 首先搭接未校正的二阶系统电路，（如图3-1断开S开关情况），先做其瞬态响应实验，观察并记录其超调量Mp、峰值时间Tp、调整时间Ts的变化。 ② 在未校正的二阶系统电路中加入超前校正环节（如上图接通S开关情况），在实验项目下拉框中选中[连续系统串联校正]实验并设置相应的参数，即可做串联超前校正实验。 ③ 观察经过串联超前校正后的二阶系统瞬态响应，并记录其超调量Mp、峰值时间Tp、调整时间Ts的变化，二者进行比较。 ④ 记录实验数据与响应曲线。 2、串联滞后校正 模拟电路图如图3-3，开关s断开对应未校状态，接通对应滞后校正。 图3-3 滞后校正模拟电路图 系统结构图示如图3-4 图3-4 滞后系统结构图 图中 Gc1(s）=10 10（s+1） Gc2（s）= 11s+1 实验方法与步骤： ① 在未校正的二阶系统电路中加入滞后校正环节（如图3-3接通S开关情况），在实验项目下拉框中选中[连续系统串联校正]实验并设置相应的参数，即可做串联滞后校正实验。 ② 观察经过串联滞后校正环节的二阶系统瞬态响应，并记录其超调量Mp、峰值时间Tp、调整时间Ts的变化。 ③ 记录实验数据与响应曲线。 3、串联超前—滞后校正 模拟电路图如图3-5，双刀开关断开对应未校状态，接通对应超前—滞后校正。 图3-5 超前—滞后校正模拟电路图 系统结构图示如图3-6 图3-6超前—滞后校正系统结构图 图中 Gc1（s）= 6 6（1.2s+1）（0.15s+1） Gc2（s）= （6s+1）（0.05s+1） 实验方法与步骤： ① 在未校正的二阶系统电路中加入超前--滞后校正环节（如图3-5接通双刀开关情况），在实验项目下拉框中选中[连续系统串联校正]实验并设置相应的参数，即可做串联超前--滞后校正实验。 ② 观察经过串联超前--滞后校正环节的二阶系统瞬态响应，并记录其超调量Mp、峰值时间Tp、调整时间Ts的变化。 ③ 记录实验数据与响应曲线。 实验报告要求 ① 画出实验电路图 填写以下实验结果表1-3： 表1 超前校正系统 指标 校正前 校正后 阶跃响应曲线 δ% Tp（秒） Ts（秒） 表2 滞后校正系统 指标 校正前 校正后 阶跃响应曲线 δ% Tp（秒） Ts（秒） 表3 超前-滞后系统 指标 校正前 校正后 阶跃响应曲线 δ% Tp（秒） Ts（秒）