X射线法分析报告.pptVIP

第六章 X射线分析法 6-1-1 概述 6-1-2 X射线与X射线光谱 高能粒子撞击原子时,会使原子内层的一个电子被撞出,而使该原子处于受激态。被撞出电子的空位将立即被较高能量电子层上的一个电子所填充，在此电子层上又形成新的空位，该新的空位又能由能量更高的电子层上的电子锁填充，如此通过一系列的跃迁（L-K，M-L，N-M）。直至受激原子回到基态。这一系列的跃迁都以X射线的形式放出能量，即发射特征的X射线光谱。 2.X射线光谱 （2）X射线特征光谱 跃迁定则： 特征光谱——定性依据 6-1-3 X射线的吸收、散射与衍射 X射线的吸收 元素的X射线吸收光谱 2.X射线的散射 X射线是电磁波，在晶体中产生周期性变化的电磁场，迫使原子中的电子也进行周期振动。 振动着的电子就成了一个新的发射电磁波的波源，以球面波方式向四面八方散发出与入射光波长，频率，周期相同的电磁波。 当入射X光按一定方向射入晶体，与晶体中电子发生作用后，再向各个方向发射X射线的现象称为散射。 原子散射X射线的能力和原子中所含的电子数目成正比。 (2) 非相干散射 3. X射线的衍射 由于晶体中原子散射的电磁波互相干涉和相互叠加而在某一方向得到加强或抵消的现象,称为衍射. 其相应的方向称为衍射方向. 衍射方向与晶胞大小,形状以及入射X射线的波长有关. 衍射光强度与原子类型和原子位置有关. Bragg衍射方程及其作用 6-2-1 X-射线荧光的产生 如果轰击原子或分子的高能粒子是一次X射线光子，则将得到二次X射线，即X射线荧光。 当一次X射线光子的能量稍大于分析物原子内层电子的能量时，才能击中相应的电子，因此X射线荧光波长总是比对应的一次X射线吸收限的波长稍长些。 Auger 效应 Moseley 定律 6-2-2 X射线荧光光谱仪 晶体分光型X射线荧光光谱仪扫描图 （1）X射线管(光源) （2）晶体分光器 （3）检测器 （4）记录显示 2. 能量色散型X射线荧光光谱仪 能量色散型X射线荧光光谱图 能量色散型X射线荧光光谱图 6-2-3 应用 6-3-1 晶体特性 6-3-2 多晶粉末衍射分析 multiple crystal powder diffraction analysis 1.仪器特点 2. 应用 6-3-3 单晶衍射分析 single crystal diffraction analysis 应用 1.定性分析 波长与元素序数间的关系；特征谱线； 查表：谱线—2?表； 例：以LiF(200)作为分光晶体，在2?=44. 59处有一强峰，谱线—2?表显示为：Ir(K?)，故试样中含Ir； （1）每种元素具有一系列波长、强度比确定的谱线； Mo(Z42)的K系谱线K?1、K?2 、K?1 、K?2 、K?3 强度比 100、 50、 14、 5、 7 （2）不同元素的同名谱线，其波长随原子序数增加而减小 Fe(Z=26) Cu(Z=29) Ag(Z=49) K?1： 1.936 1.540 0.559 埃（A） 2.定量分析 谱线强度与含量成正比； （1）标准曲线法 （2）增量法 （3）内标法 3.应用 可测原子序数5~92的元素，可多元素同时测定； 特点： (1) 特征性强，内层电子跃迁，谱线简单 (2) 无损分析方法，各种形状试样，薄层分析 (3) 线性范围广，微量—常量 缺点：灵敏度低(0.0X%)； 晶体：原子、离子、分子在空间周期性排列而构成的固态物，三维空间点阵结构；点阵 + 结构基元； 晶胞：晶体中空间点阵的单位，晶体结构的最小单位； 晶胞参数：三个向量a、b、c，及夹角?、?、? ； r,s,t；1/r,1/s,1/t：晶面在三个晶轴上的截数和倒易截数 1/r∶1/s∶1/t=h∶k∶l；晶面(110)与C 轴平行； 在入射X光的作用下，原子中的电子构成多个X辐射源，以球面波向空间发射形成干涉光； 强度与原子类型、晶胞内原子位置有关； 衍射图：晶体化合物的“指纹”； 多晶粉末衍射法：测定立方晶系的晶体结构； 单色X射线源 样品台 检测器 X射线衍射仪与X射线荧光仪相似；主要区别： (1) 单色X射线源; (2) 不需要分光晶体; 试样本身为衍射晶体，试样平面旋转；光源以不同? 角对试样进行扫描； (1) 晶体结构分析 Bugger 方程： 2d