光电器件特性实验.docVIP

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  • 2016-04-15 发布于重庆
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光电器件特性实验

光电器件特性实验(光电二极管、光电三极管,光敏电阻) 一、实验目的 1、了解光敏电阻的光电特性、光谱响应特性、频率特性等基本特性,测出它的伏安特性曲线和光照特性曲线。 2、了解光敏二极管的基本特性,测出它的伏安特性和光照特性曲线。 3、了解硅光电池的基本特性,测出它的伏安特性曲线和光照特性曲线。 4、了解光敏三极管的基本特性,测出它的伏安特性和光照特性曲线。 5、了解光纤传感器基本特性和光纤通讯基本原理。 二、实验原理 1、光敏电阻 在光照作用下能使物体的电导率改变的现象称为内光电效应。本实验所用的光敏电阻就是基于内光电效应的光电元件。当内光电效应发生时,固体材料吸 收的能量使部分价带电子迁移到导带,同时在价带中留下空穴。这样由于材料中载流子个数增加,使材料的电导率增加,电导率的改变量为 (1) 在(1)式中,e为电荷电量,△p为空穴浓度的改变量,△n为电子浓度的改变量,μ表示迁移率。 当两端加上电压U后,光电流为: (2) 式中A为与电流垂直的表面,d为电极间的间距。在一定的光照度下,△σ为恒定的值,因而光电流和电压成线性关系。 ?? 光敏电阻的伏安特性如图2所示,不同的光照度可以得到不同的伏安特性,表明电阻值随光照度发生变化。光照度不变的情况下,电压越高,光电流也越大,而且

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