TR-6020实用手册1.docVIP

1. 前言 2. 测试波形格式 3. 测试功能说明 4. 测试信道动作说明 5. IC测试程序制作 6. 连接Prober或Handler量产测试 7. 测试统计报表分析 8. 测试问题与讨论 前言 非常感谢您采用TR-6020 IC测试机，本IC测试机随货附有”TR-6020硬件使用手册”及”TR-6020软件使用手册”，但为了让您加快对TR-6020 IC测试机的学习及应用脚步，特别编写了”TR-6020实用手册”，本手册将会针对1.测试波形2.测试机测试原理3.测试机测试信道4.测试程序的编写及除错5.测试相关问题的讨论等内容，由浅入深的介绍给您。 本手册的内容将会陆续增加，我们会将有关IC测试的一些测试原理、技巧及经验加入本手册，同时也欢迎IC测试界的先进们，也能提供您宝贵的测试经验加入本手册，让我们相互分享IC测试的乐趣。本手册的内容将会放进本公司的网站内，欢迎Download。我们的连络资料： Http://.tw E-Mail：Sales@.tw Tel：886-2Fax：886-2德律科技股份有限公司 测试波形格式 TR-6020 IC测试机提供NF(No-Format)，RTZ(Return to Zero)， RTO(Return to One)，SBC (Surround By Complement)4种波形格式，其详细波形格式如图(一)所示： 一个实际的测试波形，除了NF，RTZ，RTO，SBC波形格式的设定，还需要设定该波形Test Period值，Timing Generator的Start及Stop值，Vih值及Vil值。 Test Period：即是测试周期(Test Cycle/Data Rate)。例如：SETTP(1000)表示是每一个周期时间为1000ns。 Start：在使用RTO，RTZ，SBC波形格式时，当Start设定时间满足时，测试波形的电位会依照测试Pattern的Pattern Symbol有所改变。当测试Pattern Symbol为”1”时，测试波形的电位将变成Vih设定值，当测试Pattern Symbol为”0”时，测试波形的电位将变成Vil设定值。例如： SETTSTART(“1”,200) 表示在一个周期时间内，当周期时间至200ns 时，测试波形的高低电位将会依照测试Pattern的Symbol及Vih/Vil 设定值内容而变化。 Stop：在使用RTO，RTZ，SBC波形格式时，当Stop设定时间满足时，测试波形电位的变化将会依照RTO，RTZ，SBC的设定值而改变。 TR-6020 IC测试机的Timing Generator 的Resolution是5ns，故Start，Stop及Strobe的最小设定时间单位为5ns ，Test Period最小设定时间单位为10ns。请注意:当Start设定值为0ns~15ns，Strobe设定值为 (Test Period值-10ns)到Test Period值范围时，IC测试机将无法保证可以在此设定时间值做Start，Stop，Strobe的正常动作，故使用者在设定Start，Stop及Strobe值时，请避免使用该设定值。 测试功能说明： Function测试功能说明 测试Pattern输出至IC的动作： 当IC 测试机将测试Pattern输出至IC Input Pin时，IC测试机首先会至Local Memory读取测试Pattern的资料，由于贮放Local Memory的测试Pattern资料是一些0与1的资料，故IC测试机会使用Test Period设定值，Timing Generator的Start及Stop设定值，Formator 的NF(No Formater)，RTO(Return To One)，RTZ(Return To Zero)及SBC(Surround By Complement)其中之一的设定值，及Driver的Vih或Vil的设定值将讯号产生出来，最后IC测试机会再依照测试Pattern的Symbol设定值决定是否要将此讯号输出至IC Input Pin上，当测试Pattern的Symbol设定值为0，1时，IC测试机会输出测试Pattern到IC Input Pin，若不是时，则IC测试机不会输出测试Pattern。 IC输出讯号的测试比较： 当被测试IC的Output Pin有讯号输出时，IC测试机将依照Voh或Vol的设定值将IC的输出讯号变换成0或1的数字讯号，同时再从Local Memory 读取测试Pattern，再依照测试Pattern的Symbol设定值决定是否要做测试比较。当测试Pattern的Symbol为L，H，