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华 中 科 技 大 学 研究生课程考试答题本 考生姓名 姜 波 考生学号 M201472026 系、年级 光学与电子信息学院 类 别 微电子学与固体电子学 考试科目 VLSI测试技术 考试日期 2014年 11 月 16日 评 分 题号 得分 题号 得分 总分： 评卷人： 注：1、无评卷人签名试卷无效。 2、必须用钢笔或者圆珠笔阅卷，使用红色。用铅笔阅卷无效。 NT25L59芯片测试报告 一、VLSI测试技术概论 电子测试技术，就是应电子产品设计和制造的需求而产生和发展起来的、有着四十多年历史的一个应用科学领域。电子产品从质量和经济两个方面受益于测试技术的发展和应用。质量和经济实际上是一个产品不可分割的两个属性。最优化的质量，意味着以最小的成本满足了用户的需求。一个好的测试过程能够在次品到达用户手中之前把它们淘汰出来。生产这些次品的费用往往会被转嫁到好产品的出售价格中，如果次品太多，那么少数好产品的价格就会过于昂贵。如果一个电子产品的设计工程师不能深刻理解产品的制造和测试过程背后的物理原理，很难想象他能设计出高质量的产品来。 一个电子产品的设计是从确定用户需求开始的，用户需求来自于某项