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在线测试仪应用原理篇 電阻測試 系统依标准值（STD_V）选取相应大小的电流源。被測電阻愈大, 測試電流須更小, 以確保量回被測電阻兩端的電壓VO在規定的範圍(0.15~1.5V)之內. GUARDING原理 （隔離點的選擇,通過按F7或ALT+F7,或者加適當延時等修改後再按F7或ALT+F7由系統自動完成,絕大多數可達到效果. 經驗表明,隔離點太多,測量值可能不穩定. 一般選擇0~2個隔離點可以滿足要求,並且隔離點的選擇一般僅隔離一面. 如果按F7或ALT+F7後,系統選擇的隔離點太多,則要重新作自動隔離,以找到一種隔離點較少且測量效果最好的方案.） ? RX // R 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) ≠ Rx . 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) ≠ Rx . Rx // C Rx // C 測試順序是: [放電], 充電和電壓測試. 如FIGURE 4示 . ? 考慮到電容的分流, 要先對其充電, 經過T2以后, Ic→0. 此時可量回准確的阻值. 故遇到R//C的情形, 釆用定電流源測試時, 須加DELAY TIME.且電容越大,延遲要更久,才能得到准確值. 當C較大(μ級以上)時, 當C較大(μ級以上)時, 若仍釆用定電流源方式, 則電容會將電流源分流,直至電容充飽時才成斷路, 這樣會消耗太久測量時間. 此時改以電壓源(0.2VDC)對電容充電, 迅速將電容加至0.2VDC (斷路), 再量回電流Ix值, 即可求得Rx,( RX = 0.2VDC/IX ) 在TR-518F系列测试仪中,選擇MODE2: HIGH SPEED FOR R//C , 再加适量延時即可。 EXAMPLE： ◎??????? 如果在被測電阻RX的相關電路中有電容存在 , 如FIGURE 10示 . 通過設置虛地隔離點,可以提高測試速度, 見FIGURE 11, 12 . Comparation： RX // D ( FIGURE 6 ) 推而廣之,電阻與帶PN結的零件并聯.( 包括D, ZEN, TR, FET, IC , etc ). MODE 0 → MODE 1 假設 RX = 2kΩ 若 IS = 500μA 則 VR = IS * R = 500 * 10-6(A) * 2 * 103(Ω) = 1(V) 此時D已導通, 將Rx兩端限壓至約0.7V. 那么RM = 0.7(V) / (500 * 10-6(A)) = 1.4 * 103(Ω) = 1.4kΩ ≠ Rx . 此時, 要改以低一檔電流源測試. 在TR-518F系列测试仪中為MODE1. 若 IS = 50μA 則 VR = IS * R = 50 * 10-6(A) * 2 * 103(Ω) =0.1(V) 此時D仍處于截止狀態, 故可量得正確的Rx值. 即 R M = 0.1(V) / (50 * 10-6(A)) = 2 * 103(Ω) = 2(KΩ) = Rx . 另外,互換高低點(HI-PIN←→LO-PIN). 即IS從DIODE的陰極注入, 亦可避免D的“限壓”. 互換高低點不可行的情況可能出現在以下連接電路. RX//D//C 而對于RX//D//C, 見FIGURE 7 .在TR-518F系列测试仪中,選擇MODE2: HIGH SPEED FOR R//C ,因電壓源為0.2VDC, 故D仍處于截止狀態, 亦可避開D的“限壓”. RX // L ( FIGURE 13 ) RX // L 若仍以電流源量測Rx. 由于L的暫態為由“OPEN”至“SHORT”,其暫態時間不易控制, 而穩態時電感相當于“SHORT”,將電流源完全分流, 致Vx-→0, 此時, 須以AC來測量, 使得L呈現一阻抗值(愈大愈好). 再利用相位差即可計算出Rx, 見 FIGURE 14 . 四點測量 適用于小電阻的精確測量. ( 如為兩點測量,則RM = RAB RX ) 電容測試 由OSC分別產生1kHZ / 10kHZ / 100kHZ / 1MHZ 的AC輸出信號, 其振幅均為固定(40mVrms) (FIGURE 16 ) ∵ VS / IX = XC =∣1 / ( jωCX )∣= 1 / ( 2πf CX ) ∴量回IX 的振幅, 即可求得CX . DC法 (3μF以上) 對于大電容, 若使用上述AC電壓源模式測試時, 將需要較低頻率來測試,從而增加ICT的測試時間. 另外,大電容交流阻抗很小, 如此無法判斷電容內部是否有短路發生. 此時須以DC測量, 見FIGURE 17 .測試順序 (FIGURE